中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管芯片 标准：LED 测量 CIE 127:2007

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管芯片 标准：半导体发光二极管芯片测试方法 SJ11399-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：二极管电特性测试 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：吸合电压 检测样品：继电器、接触器 标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

检测项：电压降测定 检测样品：民用直流接触器 标准：牵引电器基本试验方法ZBK63003—1988

机构所在地：贵州省遵义市 更多相关信息>>

广州市光机电技术研究院检测技术服务中心

检测项：正向电压 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：正向电流 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：电压 检测样品：LED灯具 标准：整体式LED路灯的测量方法LB/T 001-2009

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

潍坊半导体照明产品检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体二极管测试方法 SJ/T 11394-2009

检测项：反向电压 检测样品：灯和灯系统 标准：灯和灯系统的光生物安全性 GB/T 20145-2006

机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：集电极-发射极反向击穿电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：正向电压 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：正向电压 检测样品：耦合器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：正向电压 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入二极管正向电压 检测样品：双极型晶体管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：正向栅源漏电流 检测样品：场效应管 标准：《半导体器件 分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：《半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管》GB/T4023-1997 《半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T6571-1995

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电压 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极触发电流/电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极不触发电压/电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>