上海精密计量测试研究所

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：正向栅源漏 电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 、 方法4016

检测项：正向压降 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：半导体 晶体三极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：二极管电特性测试 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：最大线圈电流 检测样品：继电器、接触器 标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

检测项：最大线圈电流 检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标） 标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

机构所在地：贵州省遵义市 更多相关信息>>

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电压(VF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：国际照明委员会技朮报告 LED测量 CIE127-2007

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

广州市光机电技术研究院检测技术服务中心

检测项：正向电流 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：正向电压 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：电流 检测样品：LED灯具 标准：固态照明设备电气和光度测试核定方法IES LM-79-08

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：正向栅源漏电流 检测样品：场效应管 标准：《半导体器件 分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：《半导体器件 分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：输入二极管正向电压 检测样品：双极型晶体管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管GB/T4023-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.2-2007

检测项：阈值电流Ith、输出光功率P－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 》

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>