正向电流检测实验

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：断态电流检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：维持电流检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比hFE 检测样品：晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》GB/T 4587-1994 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：正向跨导gfs 检测样品：晶体振荡器标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值h21E 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值h21E 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值h21E 检测样品：双极型晶体管标准：1、GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管 2、GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

检测项：正向电流检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：共发射极正向电流传输比h21E 检测样品：三极管标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：正向电流检测样品：半导体激光器标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

检测项：光功率-正向电流特性检测样品：半导体激光器标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法