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检测项:卡片操作过程 检测样品:非接触集成电路射频卡及其受理设备 标准:不测交变磁场
检测项:异步字符 检测样品:非接触集成电路射频卡及其受理设备 标准:不测交变磁场
检测项:复位应答 检测样品:非接触集成电路射频卡及其受理设备 标准:不测交变磁场
机构所在地:北京市
检测项:气候交变 检测样品:涂、镀层表面 标准:循环湿度暴露的标准实践 ASTM G60-01(2007)
检测项:气候交变 检测样品:涂、镀层表面 标准:循环湿度暴露的标准实践 ASTM G60-01(2007)
机构所在地:福建省厦门市