源电压阶跃时输出电压瞬态总恢复时间检测实验

固体含量

简介

固体含量(Solidcontent) 固体含量又称不挥发物含量、总固含量(TS)，表示试样在一定温度下加热后剩余物质量与试样质量的比值，以百分数表示。固体含量测试方法：折光计法、干燥失重法、蒸发法固体含量测试仪器：折光计查看详情>>

固体含量

简介

固体含量(Solidcontent)

固体含量又称不挥发物含量、总固含量(TS)，表示试样在一定温度下加热后剩余物质量与试样质量的比值，以百分数表示。

固体含量测试方法：折光计法、干燥失重法、蒸发法

固体含量测试仪器：折光计

检测项目

固体含量
不挥发物含量
总固含量
TS

收起百科↑ 最近更新：2017年04月12日

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深圳市天海检测技术有限公司

检测项：负载输出电压和输出电流检测样品：变压器、电源、电抗器和类似产品标准：IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008 变压器、电源、电抗器和类似产品的安全　第一部分：通用要求和试验

检测项：空载输出电压检测样品：变压器、电源、电抗器和类似产品标准：IEC61558-1:2005+A1:2009 EN61558-1:2005+A1:2009 GB 19212.1-2008 变压器、电源、电抗器和类似产品的安全　第一部分：通用要求和试验

检测项：发热检测样品：家用和类似用途设备标准：IEC 60335-1: 2001+A1:2004+A2:2006 EN 60335-1: 2002 + A11:2004 +A1:2004 +A12:2006 + A2:2006 +A13:2008 GB4706.1-2005 家

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中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：冲击恢复时间检测样品：通信设备过电压保护用半导体管标准：通信设备过电压保护用半导体管 YD/T 940-1999

检测项：输出电压检测检测样品：通信用直流-直流模块电源标准：通信用直流-直流模块电源 YD/T 1376-2005

检测项：直流输出电压调节范围检测样品：通信用直流-直流变换设备标准：通信用直流-直流变换设备 YD/T 637-2006

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：电源的输入特性检测样品：AC/DC 直流供电电源标准：GJB 4414-2002军用雷达和电子对抗装备AC/DC电源规范 SJ 20825-2002军用装备直流供电电源总规范

检测项：电源的输出电压电流额定值检测样品：AC/DC 直流供电电源标准：GJB 4414-2002军用雷达和电子对抗装备AC/DC电源规范 SJ 20825-2002军用装备直流供电电源总规范

检测项：输出电压可调范围检测样品：AC/DC 直流供电电源标准：GJB 4414-2002军用雷达和电子对抗装备AC/DC电源规范 SJ 20825-2002军用装备直流供电电源总规范

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：振荡器输出电压（正弦波）检测样品：石英晶体振荡器标准：SSJ/T 11256-2001有质量评定的石英晶体振荡器第1部分：总规范

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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深圳中航技术检测所

检测项：输出电压指示误差检测样品：固定电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

检测项：输出电压谐波失真检测样品：固定电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

检测项：源电压效应检测样品：固定电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输出短路电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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生茂光电科技股份有限公司检测中心

检测项：控制装置检测样品：普通照明用LED模块标准：普通照明用LED模块测试方法GB/T24824-2009

检测项：输出电压和电流检测样品：LED模块用直流或交流电子控制装置标准：LED模块用直流或交流电子控制装置性能要求 GB/T24825-2009

检测项：线路总功率检测样品：发光二极管标准：普通照明用发光二极管性能要求 QB/T4057-2010

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：振荡器输出电压(正弦波) 检测样品：振荡器标准：有质量评定的石英晶体振荡第1部分：总规范 IEC 60679-1-2007

检测项：振荡器输出电压(脉冲波形) 检测样品：振荡器标准：有质量评定的石英晶体振荡第1部分：总规范 IEC 60679-1-2007

检测项：振荡器输出电压(正弦波) 检测样品：振荡器标准：有质量评定的石英晶体振荡第1部分：总规范 IEC 60679-1-2007

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