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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器：薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
检测项：热调整率 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：静态参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：动态参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：热调整率Sh 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇
检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：热调整率 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T14029-1992
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率 检测样品： 标准：
检测项：电流调整率 检测样品： 标准：
检测项：交叉调整率 检测样品： 标准：
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：电流调整率SI 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》
检测项：电压调整率SV 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电压调整率 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法301
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377－1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项：低电平输出电流IOL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377－1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电流调整率 检测样品：电磁继电器 标准：有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
检测项：电源电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
