物理和机械性能检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
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天津市服装家纺质量监督检验中心

检测项：伸长率检测样品：背提包标准：QB/T2710-2005 皮革物理和机械试验抗张强度和伸长率的测定

检测项：撕裂力检测样品：背提包标准：QB/T1269-2012 毛皮物理和机械试验抗张强度和伸长率的测定

检测项：撕裂力检测样品：背提包标准：QB/T2711-2005 皮革物理和机械试验撕裂力的测定：双边撕裂

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深圳出入境检验检疫局玩具检测技术中心

检测项：机械和物理性能检测样品：儿童产品/玩具标准：国家玩具安全技术规范4.1 机械和物理性能 GB6675-2003+Amd No.1 4.1

检测项：机械和物理性能检测样品：儿童产品/玩具标准：玩具安全－第一部分：关于机械和物理性能的安全方面 ISO 8124-1:2012

检测项：机械和物理性能检测样品：儿童产品/玩具标准：玩具安全:第二部分易燃性 ISO 8124-2:2007

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倍科电子技术服务(深圳)有限公司

检测项：易燃性检测样品：玩具标准：玩具安全-第1部分机械和物理性能 ISO 8124-2:2007 澳大利亚/新西兰标准玩具安全-第1部分机械和物理性能 AS/NZS ISO 8124.2:2009

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具标准：消费品使用说明：玩具使用说明 GB 5296.5-2006

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具标准：玩具安全-第1部分机械和物理性能 ISO 8124-1:2009+A1:2011+A2:2012 澳大利亚/新西兰标准玩具安全-第1部分机械和物理性能 AS/NZS ISO 8124.1:2013

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佛山市南海美泰顾问有限公司美泰官窑PI实验室

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具及儿童用品标准：澳大利亚/新西兰标准玩具安全: 第一部分机械和物理性能 AS/NZS ISO 8124.1:2013 条款 4.1 正常使用 4.2 可预见的合理滥用 4.3 材料（除膨胀材料） 4.4 小零

检测项：机械物理性能检测样品：玩具及儿童用品标准：澳大利亚/新西兰标准玩具安全: 第一部分机械和物理性能 AS/NZS ISO 8124.1:2010+Amd 1:2011 条款 4.1 正常使用 4.2 可预见的合理滥用 4.3 材料（除

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具及儿童用品标准：欧洲标准玩具安全第一部分机械和物理性能 EN71-1:2011 条款 4.1 材料清洁 4.2 组装 4.3 软性塑料薄膜 4.4 玩具袋 4.7 可接触边缘 4.8 尖点和金属丝 4.9 突出物 4.10 相对运动的部件（除4.10.1折叠和

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深圳世联检测技术服务有限公司

检测项：机械和物理性能：检测样品：儿童产品/玩具标准：玩具安全：第一部分机械和物理性能 ISO8124-1:2009/Amd.1:2011

检测项：机械和物理性能检测样品：儿童产品/玩具标准：玩具安全：第一部分机械和物理性能 ISO8124-1:2012

检测项：机械和物理性能：检测样品：儿童产品/玩具标准：玩具安全:第二部分燃烧性能 ISO 8124-2:2007

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

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中国工程物理研究院电磁兼容实验室

检测项：CE107 电源线尖锋信号(时域)传导发射检测样品：军用设备和分系统标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A－1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997

检测项：CS106 电源线尖峰信号传导敏感度检测样品：军用设备和分系统标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A－1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997

检测项：CS115 电缆束注入脉冲励传导敏感度检测样品：军用设备和分系统标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A－1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A－1997

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欧陆检测技术（深圳）有限公司

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具及儿童用品标准：儿童使用和照料用品-刀叉和喂食器具 EN 14372：2004 儿童使用和照料用品-刀叉和喂食器具 BS EN 14372：2004

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具及儿童用品标准：玩具安全标准　第１部份:机械和物理性能 EN 71-1:2011+A3：2014 玩具安全标准　第１部份:机械和物理性能 BS EN 71-1:2011+A3：2014

检测项：机械和物理性能检测样品：食品接触材料标准：与食品接触的材料和物品 - 热冲击和耐热冲击性的检验方法 EN 1183:1997 与食品接触的材料和物品 - 热冲击和耐热冲击性的检验方法 BS EN 1183:1997

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广州番禺电缆集团有限公司检测中心

检测项：部分项目检测样品：电力电缆标准：额定电压1kV(Um=1.2kV)到35kV(Um=40.5kV)挤包绝缘电力电缆及附件第1部分：额定电压1kV(Um=1.2kV)和3kV(Um=3.6kV)电缆 GB/T12706.1-2008

检测项：部分项目检测样品：电力电缆标准：额定电压1kV(Um=1.2kV)到35kV(Um=40.5kV)挤包绝缘电力电缆及附件第2部分：额定电压6kV(Um=7.2kV)到30kV(Um=36kV)电缆 GB/T12706.2-2008

检测项：部分项目检测样品：聚氯乙烯绝缘电线电缆标准：额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆电线和软线第2部分:固定布线用电缆电线 JB/T 8734.2-2012

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：外观检查检测样品：发光二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580B 半导体器件-机械和气候试验方法-第3部分：外观检查 IEC 60

检测项：X射线检查检测样品：发光二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法MIL-STD-1580B

检测项：外观检查检测样品：发光二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法 MIL-STD-1580B 半导体器件-机械和气候试验方法-第3部分：外观检查 IEC 60

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