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检测项:老炼 检测样品:半导体集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) GB/T12750-2006
机构所在地:重庆市
检测项:老炼试验 检测样品:钽电容器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:老炼试验 检测样品:电子设备、产品 标准:有可靠性指标的固体电解质钽电容总规范 GJB63B-2001
检测项:老炼试验 检测样品:钽电容器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:功率老炼 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分:场效应晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:老炼、稳态寿命 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:老炼、稳态寿命 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:辽宁省沈阳市
检测项:老炼试验 检测样品:电阻器 标准:GJB360A-1996电子及电气元件测试方法
检测项:老炼试验 检测样品:闸流晶体管 标准:SJ/Z9014.3-1987半导体器件 分立器件和集成电路 第6部分:闸流晶体管
机构所在地:江苏省南京市