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收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数,收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器:薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:部分项目 检测样品:声频功率放大器(有源音箱) 标准:声系统设备第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011 /IEC60268-3:2000
检测项:部分项目 检测样品:声频功率放大器(有源音箱) 标准:声系统设备第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011 /IEC60268-3:2000
检测项:*稳态频率偏移范围 检测样品:电子信息系统机房 标准:电子信息系统机房设计规范 GB 50174-2008 电子信息系统机房施工及验收规范 GB 50462-2008
机构所在地:上海市
检测项:电压调整率 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:电源电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:电压调整率 (SV) 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项:电流调整率(SI) 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市
检测项:电压调整率 检测样品:光电器件 标准:《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003
检测项:电流调整率 检测样品:光电器件 标准:《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003
检测项:输出电压 检测样品:电压调整器 标准:《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T4377-1996
机构所在地:江苏省扬州市