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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器：薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
检测项：电压调整率SV 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995
检测项：工作电压VZ 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
检测项：正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：静态参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：动态参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：基准电压 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
检测项：电压调整率 检测样品： 标准：
检测项：电流调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
检测项：电压调整率试验 检测样品：高压谐振试验装置 标准：《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分：高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项：无线电干扰电压试验 检测样品：电子式电压互感器（传感器） 标准：《互感器 第7部分: 电子式电压互感器》 GB/T20840.7-2007 《互感器 第7部分: 电子式电压互感器》 IEC60044-7：1999
检测项：传递过电压试验 检测样品：电子式电压互感器（传感器） 标准：《互感器 第7部分: 电子式电压互感器》 GB/T20840.7-2007 《互感器 第7部分: 电子式电压互感器》 IEC60044-7：1999
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：基准电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994
检测项：电流调整率 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994
检测项：集电极-基极击穿电压V(BR)CBO 检测样品：二极管 标准：《半导体器件 分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995
