电子单元的温度系数补偿器误差检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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脆化温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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苏州朗博校准检测有限公司

检测项：电子单元温度补偿器误差试验检测样品：标准：

检测项：电子单元误差 (mV值) 检测样品：标准：

检测项：电子单元误差(pH值) 检测样品：酸度计标准：实验室pH计 GB/T 11165-2005

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北京市计量检测科学研究院

检测项：电子单元温度补偿器误差检测样品：实验室pH(酸度)计标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007

检测项：电子单元温度补偿器误差检测样品：实验室pH(酸度)计标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007

检测项：温度补偿器误差检测样品：实验室pH(酸度)计标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007

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陕西省计量科学研究院

检测项：电子单元温度系数补偿误差检测样品：工业电导率仪标准：工业电导率仪 JB/T 6855-1993 电导率仪测量用校准溶液制备方法 JB/T 8277-1999 电导率仪的试验溶液氯化钠溶液制备方法 JB/T 8278-1999

检测项：电子单元的环境温度影响误差检测样品：工业pH计标准：仪器仪表运输、运输储存基本环境条件及试验方法 JB/T 9329-1999 电子工业产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法 GB/T 2423.4-1993

检测项：电子单元自动温度补偿误差检测样品：工业电导率仪标准：工业电导率仪 JB/T 6855-1993 电导率仪测量用校准溶液制备方法 JB/T 8277-1999 电导率仪的试验溶液氯化钠溶液制备方法 JB/T 8278-1999

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：V/F失调误差温度系数检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：DAC失调误差温度系数检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：DAC线性误差温度系数检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：模拟乘法器标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T 14029-1992

检测项：功能检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：温度循环检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环（空气-空气）电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验；

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：D/A失调误差温度系数检测样品：RF器件标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：D/A增益误差温度系数检测样品：RF器件标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：D/A线性误差温度系数检测样品：RF器件标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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株洲变流技术国家工程研究中心实验中心

检测项：阀端子与地之间的交流电压试验检测样品：无功补偿器用晶闸管阀(TCR, TSR和 TSC) 标准：《电力输配电系统功率电子静止无功补偿器用晶闸管阀试验》 IEC61954:2013

检测项：冲击电压试验检测样品：无功补偿器用晶闸管阀(TCR, TSR和 TSC) 标准：《轨道交通机车车辆用电力变流器第1部分:特性和试验方法》 IEC61287-1:2005

检测项：温升试验检测样品：无功补偿器用晶闸管阀(TCR, TSR和 TSC) 标准：《轨道交通机车车辆用电力变流器第1部分:特性和试验方法》 IEC61287-1:2005

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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：补偿器的安平误差检测样品：可见分光光度计标准：GB/T26810-2011《可见分光光度计》、JB/T9324-1999《可见分光光度计》

检测项：补偿器的补偿误差检测样品：可见分光光度计标准：GB/T26810-2011《可见分光光度计》、JB/T9324-1999《可见分光光度计》

检测项：竖直度盘补偿器补偿误差检测样品：经纬仪标准：GB/T 3161-2003《光学经纬仪》

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伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：温度冲击检测样品：电子元器件标准：《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N：温度变化》 GB/T 2423.22-2012/

检测项：绕组的直流电阻检测样品：电感和变压器标准：《无源(被动)器件的应力测试标准》表5, No 4

检测项：低温检测样品：电子元器件标准：《电工电子产品环境试验第2部分试验A：低温》 GB/T 2423.1-2008/

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：温度系数检测样品：通信用直流-直流模块电源标准：电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010

检测项：电阻温度系数检测样品：电阻器标准：电子设备用固定电阻器第1部分：总规范 GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器第四部分:分规范功率型固定电阻器 GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第8部分：分规范：片式固定电阻器 GB/T 9546-1995 电子设备

检测项：电阻温度系数检测样品：电阻器标准：电子设备用固定电阻器第1部分：总规范 GB/T 5729-2003 电子设备用固定电阻器第四部分:分规范功率型固定电阻器 GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第8部分：分规范：片式固定电阻器 GB/T 9546-1995 电子设备

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