中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

检测项：碰撞 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2002.1 机械冲击 GJB548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2005 振动疲劳 GJB 548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2007 扫频振动 GJB 548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

通标标准技术服务有限公司青岛分公司

检测项：镉 检测样品：塑料和橡胶 标准：电子电气产品中某些物质的测定 第5部分：用AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS测定聚合物和电子器件中的镉、铅、铬以及金属中的镉、铅 IEC 62321-5:2013

检测项：铅 检测样品：生活饮用水 标准：电子电气产品中某些物质的测定 第5部分： 用AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS测定聚合物和电子器件中的镉、铅、铬以及金属中的镉、铅 IEC 62321-5:2013

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：电耐久性 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：正向电流 检测样品：光耦 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：跨导 检测样品：光耦 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：击穿电压 检测样品：光耦 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

富士康（昆山）电脑接插件有限公司实验室

检测项：焊锡天平沾锡试验 检测样品：电子及电气零组件 标准：润湿平衡法测试表面贴装电子器件的沾锡性 IEC 60068-2-69-2007

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：恒温恒湿试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：微电子器件试验方法和程序 方法1010.1 温度循环 GJB 548B-2005

检测项：可焊性试验 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2030:芯片粘接的超声波检测 GJB 548B-2005

检测项：X射线照像 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法 2012.1：X射线照相 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省吴江市 更多相关信息>>

伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：外部目检 检测样品：电子元器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》 方法 2009.1 外部目检 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883E 1009.8

检测项：湿 热试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省焦作市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>