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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:部分安全项目 检测样品:电池 标准:UL 2054:2011 民用和商用电池
检测项:部分安全项目 检测样品:电池 标准:IEC 62133:2002 BS EN 62133:2003 便携式和便携式装置用密封含碱性电解液 二次电池的安全要求
检测项:部分安全项目 检测样品:电池 标准:UN DOT 38.3-2009 联合国专家委员会关于危险品的运输建议书
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:55摄氏度下的短路测试 检测样品:民用和商用电池 标准:民用和商用电池 UL 2054:2011
检测项:常温下的短路测试 检测样品:锂单体电池 标准:锂电芯 UL1642:2012
检测项:模拟高空低压测试 检测样品:锂单体电池 标准:锂电芯 UL1642:2012
检测项:全部项目 检测样品:电池 标准:包含碱性或其他非酸性电解质的二次电池和蓄电池.便携式设备用二次锂电池和蓄电池 BS EN 61960-2011
检测项:全部项目 检测样品:锂电池/镍电池 标准:运输途中原电池和二次锂电池及蓄电池组的安全 IEC 62281:2012
检测项:部分项目 检测样品:碱性电池 标准:包含碱性或其他非酸性电解质的二次电池和蓄电池.便携式设备用二次锂电池和蓄电池 EN 61960-2011
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:全项目 检测样品:标准电池 标准:标准电池 GB/T 3929-1983
检测项:部分项目 检测样品:电子吊秤 标准:电子吊秤 GB/T11883-2002
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:高温贮存 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验;
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:静态参数 检测样品:采样/保持放大器 标准:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996;
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:储存寿命 检测样品:涂料硝化棉 标准:炸药环境适应性试验 高低温温度循环试验法 Q/AY 250-1996(所标)
检测项:断裂拉伸强度 检测样品: 标准:
检测项:拉断伸长率 检测样品: 标准:
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:老炼和寿命试验(功率场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:贮存寿命 检测样品:爆炸品 标准:火工品试验方法 71℃试验方法 GJB736.8—90
检测项:贮存寿命 检测样品:炸药 标准:火工品试验方法 71℃试验方法 GJB736.8—90
检测项:挤压 检测样品:锂电池 标准:原电池 第4部分:锂电池的安全要求 GB 8897.4-2008 6.5.3
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:寿命 检测样品:微波元器件 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
检测项:寿命 检测样品:反射型自镇流LED灯 标准:1、GB/T 29295-2012 反射型自镇流LED灯性能测试方法 2、GB/T 29296-2012 反射型自镇流LED灯 性能要求
检测项:开关、寿命和发光维持率 检测样品:LED模块 标准:1、GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法 2、GB/T 24823-2009 普通照明LED模块性能要求
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
机构所在地:上海市 更多相关信息>>