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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:贮存寿命 检测样品:爆炸品 标准:火工品试验方法 71℃试验方法 GJB736.8—90
检测项:贮存寿命 检测样品:炸药 标准:火工品试验方法 71℃试验方法 GJB736.8—90
检测项:挤压 检测样品:锂电池 标准:原电池 第4部分:锂电池的安全要求 GB 8897.4-2008 6.5.3
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:寿命 检测样品:微波元器件 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
检测项:寿命 检测样品:反射型自镇流LED灯 标准:1、GB/T 29295-2012 反射型自镇流LED灯性能测试方法 2、GB/T 29296-2012 反射型自镇流LED灯 性能要求
检测项:开关、寿命和发光维持率 检测样品:LED模块 标准:1、GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法 2、GB/T 24823-2009 普通照明LED模块性能要求
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:插拔寿命 检测样品:移动通信终端电源适配器 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法 YD/T 1591-2009
检测项:寿命试验 检测样品:无绳电话机 标准:电信终端设备防雷技术要求及试验方法 YD/T 993-2006(2012) 无绳电话机技术要求和测试方法 GB/T 17113-2008
检测项:线缆A 端插拔力及寿命要求 检测样品:移动通信终端电源适配器 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法 YD/T 1591-2009
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:按键寿命 检测样品:移动通信手持机(环境) 标准:YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法
检测项:翻盖(滑盖)寿命 检测样品:移动通信手持机(环境) 标准:YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法
检测项:附录N:蓄电池柜的通风 检测样品:不间断电源(安全) 标准:不间断电源设备 第1部分:UPS的一般规定和安全要求 IEC 62040-1:2008+A1:2013; EN 62040-1:2008+A1:2013
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:盐雾 检测样品:电连接器和插座 标准:稳态湿热偏压寿命测试 JESD 22-A101C-2009
检测项:盐雾试验 检测样品:电连接器和插座 标准:稳态湿热偏压寿命测试 JESD 22-A101C-2009
检测项:恒定湿热 检测样品:电子电气产品 标准:EIA-364-17C:2011 有/无负载电子连接器温度寿命测试
检测项:恒定湿热 检测样品:电子电气产品 标准:有/无负载电子连接器温度寿命测试 EIA-364-17C:2011
检测项:高温性能 检测样品:电子电气产品 标准:EIA-364-59A:2006 电子连接器及插座低温测试
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:稳态 湿热 检测样品:电子元器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100C-2007
检测项:寿命试验 检测样品:电子元器件 标准:集成电路闩锁测试 EIA/JESD78D-2011
检测项:温度冲击 (气体介质) 检测样品:电子元器件 标准:稳态湿热偏置寿命试验EIA/JESD22-A101c-2009
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:光源寿命要求 检测样品:LED封装、阵列、模组流明维持测试 标准:IESNA LM-49-2001 能源之星灯具类规范要求-Version 1.1
检测项:高温存储试验 检测样品:电子电气产品环境试验 标准:低温贮存寿命 JESD22-A119-2009
检测项:中期寿命试验 平均额定寿命 检测样品:螺旋式紧凑型荧光灯(CFL) (定向型/非定型) 标准:IESNA LM-66-2011 能源之星对紧凑型荧光灯(CFLs)的要求Version 4.3
机构所在地:江苏省吴江市 更多相关信息>>
检测项:稳态寿命 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1015.1
检测项:稳态寿命 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1005A
检测项:间歇寿命 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1005.1
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>