烟台市公安局刑事科学技术研究所

检测项：印章印文 检测样品：印刷文件 标准：《印章印文检验》 IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：山东省烟台市 更多相关信息>>

广州赛西光电标准检测研究院有限公司

检测项：光强分布 检测样品：灯和灯具 标准：灯和照明-灯和灯具光度数据的测量和表示-第1部分：测量和文件格式 EN 13032-1:2004（E）

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

亳州市公安局物证鉴定所

检测项：印章印文 检测样品：印刷文件 标准：《印章印文检验》 IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：安徽省亳州市 更多相关信息>>

上海华测品标检测技术有限公司

检测项：电磁辐射 检测样品：辐射 标准：《移动通信基站电磁辐射环 境监测方法》（试行） 国家环境保护总局文件 环发〔2007〕114号

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

威海市公安局刑事科学技术研究所

检测项：印章印文检验 检测样品：印刷文件 标准：公安部物证鉴定中心《印章印文检验》IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：山东省威海市 更多相关信息>>

焦作市公安局刑事科学技术研究所

检测项：掌纹鉴定 检测样品：印刷文件 标准：《掌纹鉴定法》 IFSC 07-03-01-2006

检测项：印章印文 检测样品：印刷文件 标准：《印章印文检验》 IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：河南省焦作市 更多相关信息>>

芜湖市公安局物证鉴定中心

检测项：印章印文 检测样品：印刷文件 标准：公安部物证鉴定中心 《印章印文检验》IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：安徽省芜湖市 更多相关信息>>

郑州铁路公安局物证鉴定所

检测项：印章印文 检测样品：印刷文件 标准：公安部物证鉴定中心 《印章印文检验》IFSC 09-03-04-2006

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：键合强度 检测样品：半导体集成电路 失效分析 标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：扫描电子显微镜（SEM）检查 检测样品：半导体集成电路 失效分析 标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：芯片剪切强度 检测样品：半导体集成电路 失效分析 标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：碰撞与颠震(包括规定脉冲和稳态加速度) 检测样品：电工电子产品、 军用船用电气设备 标准：GJB150.18A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第18部分： 冲击试验》 试验程序1\程序2\程序4

检测项：电容量 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：损耗(Q) 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>