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检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：骚扰电压 检测样品： 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000-3-2:2009
检测项：谐波电流 检测样品： 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000-3-2:2009
检测项：骚扰功率 检测样品：电动工具 的电磁兼容 标准：电磁兼容 家用电器、电动工具&类似器具的要求 第一部分：发射 *CISPR 14-1:2011
机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项：输入-输出特性 检测样品：汽车通用 继电器 标准：汽车通用继电器 QC/T 695-2002
检测项：最大净功率 检测样品：摩托车 及轻便 摩托车 发动机 标准：GB/T 5363-2008 摩托车和轻便摩托车发动机台架试验方法 GB/T 20076-2006 摩托车和轻便摩托车发动机最大扭矩和最大净功率测量方法
检测项：最大净功率 检测样品：摩托车 及轻便 摩托车 发动机 标准：摩托车和轻便摩托车发动机台架试验方法GB/T 5363-2008 摩托车和轻便摩托车发动机最大扭矩和最大净功率测量方法 GB/T 20076-2006
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输入电流 检测样品：晶体振荡器 标准：GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范
检测项：输入电流 检测样品：晶体振荡器 标准：GJB 1648A-2011 晶体振荡器总规范
检测项：输入二极管正向电压 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输入轴全转角的测定 检测样品：汽车机械转向器总成 标准：汽车转向器总成台架试验方法QC/T 29096-1992
机构所在地：湖北省荆州市 更多相关信息>>
检测项：最大输入角速度 检测样品：光纤陀螺仪 标准：光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004 光纤陀螺仪测试规范 Q/Kxg 175-2011
检测项：输入轴失准角 检测样品：光纤陀螺仪 标准：光纤陀螺仪测试方法 GJB 2426A-2004 光纤陀螺仪测试规范 Q/Kxg 175-2011
检测项：输入量程和过载离心机试验 检测样品：微机电陀螺仪 标准：微机电陀螺仪测试方法 Q/Kx 0013-2008
检测项：输入过、欠压及缺相保护 检测样品：通信用电源系统 标准：通信用高频开关电源系统 YD/T 1058-2007
检测项：输入过、欠压及缺相保护 检测样品：通信用直流---直流变换设备 标准：通信用直流---直流变换设备 YD/T 637-2006
检测项：输入—输出特性 检测样品：助力器总成 标准：真空助力器技术条件 QC/T307-1999
检测项：输入—输出特性 检测样品：助力器总成 标准：长城汽车股份有限公司 ：真空助力器技术条件 Q/CC JT015-2008
检测项：输入—输出特性 检测样品：助力器总成 标准：浙江吉利汽车研究院有限公司：真空助力器技术条件 JLYY-JT79-08
机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品：WCDMA移动通信网直放站 标准：《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1554-2007
检测项：输入互调 检测样品：TD-SCDMA移动电话机 标准：《信息技术设备的无线电骚扰限值和测试方法》 GB9254-2008
检测项：输出互调 检测样品：微功率（短距离）无线电发射设备 标准：《电磁兼容性及无线频谱事务（ERM）；频段处于25MHz至1GHz范围内的发射功率小于500 mW短距离微功率设备;第一部分：技术特点和测试方法》 ETSI EN 300 220-1 V2.2.1 (2008-04) 《电磁兼容性及无线频谱事务（ERM）
机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
