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胃肠X射线检查用品产品描述:通常由胶囊及内容标记物组成。胶囊一般由羟丙甲纤维素制成,内容标记物主要由添加硫酸钡的聚氯乙烯材料等制成。非无菌提供。 胃肠X射线检查用品预期用途:用于对胃肠功能性紊乱等疾病进行诊断或疗效评估。 胃肠X射线检查用品品名举例:胃肠动力标记物胶囊 胃肠X射线检查用品管理类别:Ⅲ 胃肠X射线检查用品相关指导原则: ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月14日
检测项:X射线行李包检查系统防护剂量率 检测样品:土壤、底质、海洋沉积物 标准:X射线行李包检查系统卫生防护标准 GBZ 127-2002
检测项:硫 检测样品:矿物油 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T17040-2008
检测项:γ射线辐射防护剂量率 检测样品:电离辐射 标准:γ射线和电子束辐照装置防护检测规范 GBZ 141-2002 (5.1) (4.1)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:全部项目* 检测样品:便携式X射线安全检查设备 标准:《便携式X射线安全检查设备通用规范》 GB 12664-2003
检测项:全部项目* 检测样品:货物运输微剂量X射线安全检查设备 标准:《货物运输微剂量X射线安全检查设备通用技术要求》 GA857-2009
检测项:全部项目** 检测样品:微剂量透射式X射线人体安全检查设备 标准:《微剂量透射式X射线人体安全检查设备通用技术要求》 GA926-2011
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:X射线行李包检查系统 标准:GBZ127-2002 X射线行李包检查系统卫生防护标准
检测项:内照射剂量 检测样品:X、γ屏蔽材料 标准:GBZ/T147-2002 X射线防护材料衰减性能的测定
检测项:全部项目 检测样品:X、γ屏蔽材料 标准:GBZ/T147-2002 X射线防护材料衰减性能的测定
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:X射线行李包检查系统工作场所防护 检测样品:装修装饰材料 标准:X射线行李包检查系统卫生防护标准GBZ127-2002
检测项:X射线计算机断层摄影装置(CT)影像质量保证 检测样品:放射卫生与防护 标准:医用X射线CT机房的辐射屏蔽规范GBZ180-2006
检测项:X射线计算机断层摄影装置(CT)机房防护 检测样品:放射卫生与防护 标准:X射线计算机断层摄影放射卫生防护标准 GBZ165-2005
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:便携式X射线检查系统机房防护监测 检测样品:放射防护 标准:便携式X射线检查系统放射卫生防护标准 GBZ 177-2006
检测项:便携式X射线检查系统机房防护监测 检测样品:放射防护 标准:医用Χ射线诊断卫生防护监测规范 GBZ 138-2002 (5.1)
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:外表面辐射 检测样品:X射线行李包检查系统 标准:X射线行李包检查系统卫生防护标准 GBZ 127-2002
检测项:加速器和X射线辐射源箱泄漏剂量 检测样品:集装箱检查系统 标准:集装箱检查系统放射卫生防护标准 GBZ 143-2002
检测项:衰减比 检测样品:X射线防护材料 标准:X射线防护材料衰减性能的测定 GBZ/T 147-2002
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:橡胶及有关制品 标准:硫化橡胶或热塑性橡胶 低温脆性的测定 ISO 812:2011
检测项:镀层厚度 检测样品:固体材料 标准:ASTM B568-1998(2009) 用X射线光谱测定法测量镀层厚度的试验方法
检测项:切片分析 检测样品:固体材料 标准:ISO 3497-2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
检测项:X射线检查 检测样品:焊点 标准:IPC-A-610E电子组件的可接受性
检测项:X射线检查 检测样品:印刷电路板&印刷电路板组装 标准:GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序
检测项:X射线照相 检测样品:片式固定电阻器 标准:①GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 ②IPC-TM-650-2007 试验方法手册
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:集装箱检查系统放射卫生防护检测 检测样品:放射卫生防护 标准:《医用X射线CT机房的辐射屏蔽规范》GBZ/T180-2006
检测项:集装箱检查系统放射卫生防护检测 检测样品:放射卫生防护 标准:《医用X射线诊断卫生防护标准》 GBZ130-2002
机构所在地:新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:印制板组装件焊点 标准:表面和混合安装印制电路板组装件的高可靠性焊接QJ3086-1999
检测项:X射线检查 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006