重庆长安汽车股份有限公司汽车检测中心

检测项：行车制动部份失效试验 检测样品：汽车整车 标准：GB 12676-1999汽车制动系统结构、性能和试验方法

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

江苏亚维检测技术服务有限公司

检测项：机织物中纱线 抗滑移性 检测样品：纺织品 标准：服用机织物中缝线失效性测试方法 ASTM D1683-11a

机构所在地：江苏省南通市 更多相关信息>>

奇瑞汽车股份有限公司汽车工程中心

检测项：制动性能 检测样品：汽车整车 标准：只测0型、I型、失效试验、驻车制动、车轮抱死顺序试验、ABS试验。

检测项：制动性能 检测样品：汽车整车 标准：只测0型、I型、失效试验、驻车制动、车轮抱死顺序试验、ABS试验。

检测项：转向装置 检测样品：汽车整车 标准：只测0型、I型、失效试验、驻车制动、车轮抱死顺序试验、ABS试验。

机构所在地： 更多相关信息>>

浙江顶峰技术服务有限公司

检测项：对机械和电气失效的防护 检测样品：电气产品 标准：认可及测试规范 - 电气产品通用要求 AS/NZS 3100:2009 + A1:2010 + A2:2012

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

河南省863软件孵化器有限公司软件评测中心

检测项：易分析度量（失效分析的能力） 检测样品： 标准：

检测项：成熟性度量（针对测试用例失效密度） 检测样品：应用软件产品 标准：软件工程 产品质量 第2部分：外部度量 GB/T16260.2-2006

检测项：易分析性度量（失效分析的能力） 检测样品：应用软件产品 标准：软件工程 产品质量 第2部分：外部度量 GB/T16260.2-2006

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：外部检查 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：微电路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

乐清市科技孵化创业中心电器可靠性实验室

检测项：失效率等级 检测样品：小容量交流接触器 标准：GB/Z22200-2008小容量交流接触器可靠性试验方法

检测项：失效率等级 检测样品：小型断路器 标准：GB/Z22203-2008家用和类似用途的过电流保护断路器的可靠性试验方法

检测项：操作失效率等级 检测样品：塑料外壳式断路器 标准：GB/Z22074-2008塑料外壳式断路器可靠性试验方法

机构所在地：浙江省乐清市 更多相关信息>>

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：标签数据 检测样品：射频识别标签芯片 标准：EPCglobal标准：EPCglobal标签数据标准，第1.5版

检测项：协议参数 检测样品：射频识别标签芯片 标准：EPCglobal标准：EPC射频识别协议——1类2代超高频射频识别——一致性要求，第1.0.5版

检测项：工作过程描述 检测样品：射频识别标签芯片 标准：EPCglobal标准：EPC射频识别协议——1类2代超高频射频识别——一致性要求，第1.0.5版

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：芯片粘附强度 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：芯片目检（半导体二极管） 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：芯片剪切强度 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：芯片粘附强度 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：封帽前目检，微波分立和多芯片晶体管 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：芯片剪切强度 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：上海市 更多相关信息>>