山东泰思特检测有限公司

检测项：TOFD检测 检测样品：金属材料及焊接接头 标准：承压设备无损检测 第10部分：衍射时差法超声检测 NB/T 47013.10-2010（JB/T 4730.10）

机构所在地：山东省淄博市 更多相关信息>>

万向硅峰电子股份有限公司检测中心

检测项：晶向偏离度 检测样品： 标准：《半导体单晶晶向测定方法》GB/T 1555-2009

机构所在地：浙江省衢州市 更多相关信息>>

江苏省沙钢钢铁研究院有限公司分析测试中心

检测项：金属点阵常数测定 检测样品：金属与合金 标准：金属点阵常数的测定方法X射线衍射仪法YB/T 5337-2006

机构所在地：江苏省张家港市 更多相关信息>>

杭州市疾病预防控制中心

检测项：γ辐射剂量率 检测样品：放射防护 标准：X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ 115-2002

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

兰州金川新材料科技股份有限公司理化检测室

检测项：粒度 检测样品：四氧三化钴 标准：GB/T 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

检测项：粒度 检测样品：镍物料元素分析 标准：GB/T 19077.1-2008粒度分析 激光衍射法

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

苏州华测安评化学品技术服务有限公司

检测项：粒径分布 检测样品： 标准：《粒度分析-激光衍射法 第1部分：通则》 GB/T 19077.1-2008

检测项：吸附/解吸附 检测样品： 标准：《粒度分析-激光衍射法 第1部分：通则》 ISO 13320-2009

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：组份 检测样品：半导体材料 标准：高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 GB/T 24576-2009

检测项：晶格常数 检测样品：半导体材料 标准：转靶多晶体X射线衍射方法通则； JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013

检测项：光通量和光通量效率 检测样品：发光二极管 标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东省地质实验测试中心

检测项：X射线衍射分析 检测样品：贵金属 标准：钻石分级GB/T 16554-2010 钻石色级目视评价方法 GB/T 18303-2008

检测项：X射线衍射分析 检测样品：珠宝玉石 标准：钻石分级GB/T16554-2010 钻石色级目视评价方法GB/T18303-2008

检测项：X射线粉末衍射分析 检测样品：贵金属及工艺饰品 标准：饰品 有害元素限量的规定 GB 28480-2012 摆件术语QB/T 4442-2012

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

湖北省冶金材料分析测试中心有限公司

检测项：钢中残余奥氏体定量测定 检测样品：铁磁材料 标准：钢中残余奥氏体量测定-X射线衍射法 YB/T 5338-2006

检测项：X射线定量相分析 检测样品：铁磁材料 标准：金属材料定量相分析-X射线衍射K值法 YB/T 5320-2006

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

国家纳米技术与工程研究院检测中心

检测项：XRD定性分析 检测样品：金属材料 标准：转靶多晶体X射线 衍射方法通则 JY/T 009-1996

检测项：粒度分析 检测样品：粉末 标准：粒度分析 激光衍射法 GB/T 19077.1-2008

机构所在地：天津市 更多相关信息>>