覆层厚度检测检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
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GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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神华神东煤炭集团有限责任公司设备管理中心检测实验室

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检测项：全厚度拉伸强度、伸长率测定检测样品：一般用途织物芯阻燃输送带标准：织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法 GB/T 3690-2009

检测项：覆盖层厚度检测样品：煤矿用钢丝绳芯输送带标准：钢丝绳芯输送带总厚度和覆盖层厚度的测定方法 GB/T 5753-2008

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舞阳钢铁有限责任公司理化检测中心

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上海标检产品检测有限公司

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万向硅峰电子股份有限公司检测中心

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检测项：总厚度变化检测样品：标准：《硅片厚度和总厚度变化测试方法》GB/T 6618-2009

检测项：翘曲度检测样品：标准：《硅片翘曲度非接触式测试方法》GB/T 6620-2009

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富泰华工业（深圳）有限公司华南检测中心

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检测项：显微法量测镀层厚度检测样品：金属或塑料零件标准：通过横截面法显微检验测试金属及氧化物厚度标准方法 ASTM B 487-85(Reapproved 2007)

检测项：镀层厚度检测样品：金属及塑料零件标准：通过横截面法显微检验法测试金属及氧化物厚度标准方法 ASTM B 487-85(2007)

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深圳市美信检测技术有限公司

检测项：镀层厚度检测样品：金属材料标准：通过横截面法显微检验法测试金属及氧化物厚度标准方法 ASTM B487-1985(2007)

检测项：镀层厚度检测样品：金属材料标准：灰铸铁金相检验 GB/T 7216-2009

检测项：镀层厚度检测样品：金属材料标准：金属显微组织检验方法 GB/T 13298-1991

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深圳市华测检测技术股份有限公司

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鸿富晋精密工业（太原）有限公司太原检测中心

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检测项：碳/硅/锰/硫/磷/钼/钒/钴/铝/铜/铬/镍/锡/钛检测样品：碳素钢及低合金钢标准：碳素钢及低合金钢光辐射真空光谱测定分析的标准试验方法 ASTM E 415-08

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武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

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检测项：覆盖层厚度检测样品：*金银铂制(饰)品标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005 首饰金覆盖层厚度的测定方法化学法 QB/T 1133-1991 首饰银覆盖层厚度的测定方法化学法 QB/T 1134-1991 首饰金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱

检测项：*覆盖层厚度检测样品：金属、合金及固体材料标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005 轻工产品金属镀层和化学处理层的厚度测试方法金相显微镜法 QB/T 3817-1999

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