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镀层/涂层厚度简介 厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一,它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。 镀层厚度检测方法 镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。 镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法,射线反射法,x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2017年06月29日
检测项:保护层厚度 检测样品:保温节能材料 标准:《绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 防护热板法》GB/T10294-2008
检测项:厚度 检测样品:绝热用模塑聚苯乙烯泡沫塑料 标准:《泡沫塑料与橡胶线性尺寸的测定》GB/T6342-1996
机构所在地:江苏省泰州市 更多相关信息>>
检测项:厚度 检测样品:纺织品 标准:织物耐磨性 马丁代尔法的测定 第2部分:样品破损的测定 ISO 12947-2:1998
检测项:厚度 检测样品:纺织品 标准:织物耐磨性 马丁代尔法的测定 第3部分:重量损失的测定 ISO 12947-3:1998
检测项:厚度 检测样品:纺织品 标准:织物耐磨性 马丁代尔法的测定 第4部分:表面变化的评估 ISO 12947-4:1998
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:钢板厚度方向性能试验 检测样品:金属与金属制品 标准:厚度方向性能钢板 GB/T 5313-2010
检测项:钢板厚度方向性能试验 检测样品:金属与金属制品 标准:金属材料拉伸试验的 标准方法 ASTM E8/E8M-13a
检测项:钢板厚度方向性能试验 检测样品:金属与金属制品 标准:金属材料-拉伸试验-第1部分:室温试验方法 EN10002-1:2001
机构所在地:江西省新余市 更多相关信息>>
检测项:金属厚度 测量 检测样品:电工电子产品 标准:金属镀涂层厚度测量方法 SJ20129-1992
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品 标准:金属基体上金属和其他无机覆盖层经腐蚀试验后的试样和试件的评级GB/T6461-2002
检测项:热冲击(液体介质) 检测样品:电工电子产品 标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化-双液槽法 GB/T4937.11-2006
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:氧化层厚度 检测样品:金属材料 标准:金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法 GB/T 6462-2005
检测项:氧化层厚度 检测样品:金属材料 标准:测定钢样品脱碳深度的标准试验方法 ASTM E1077 -2001(2005)
检测项:非金属夹杂物 检测样品:金属材料 标准:钢中非金属夹杂物含量的测定-标准评级图显微检验法GB/T 10561-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:金属镀层 标准:ISO3497:2000 金属覆盖层-镀层厚度的测量-X射线光谱法
检测项:低温 检测样品:电工电子产品环境试验 标准:GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
检测项:橡胶硬度的测量 检测样品:金属镀层 标准:ASTM D2240-05(2010) 用硬度计测定橡胶硬度的试验方法
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:金属覆盖层厚度 检测样品:皮革产品 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
检测项:偶氮 检测样品:皮革产品 标准:利用X射线光谱法测量覆盖层厚度的标准方法 ASTM B568–98(2009)
检测项:偶氮 检测样品:皮革产品 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 ISO 3497:2000
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:金属 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法GB/T 16921-2005
检测项:硅 检测样品:金属 标准:铁以及钢—ICP发射光谱分析法—第3部:硅、锰、磷、镍、铬、钼、铜、钒、钴、钛和铝的定量方法—酸分解•碳酸钠熔化法 JIS G1258-3:2007
检测项:镀层厚度 检测样品:金属覆盖层 标准:金属覆盖层镀层厚度的测量 X射线光谱法 ISO 3497-2000
检测项:粗糙度 检测样品:金属制品 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
检测项:镀层厚度 检测样品:金属覆盖层 标准:紧固件机械性能 自攻螺钉 GB/T 3098.5-2000
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:全参数 检测样品:贵金属 标准:《首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法》 QB/T 1135-2006
检测项:全参数 检测样品:贵金属 标准:《首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法》QB/T 1135-2006
检测项:全参数 检测样品:贵金属 标准:《首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法》QB/T1135-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>