视觉芯片检测实验

视觉康复设备

简介

视觉康复设备相关标准： 1、GB/T 25102.13-2010 《电声学助听器第13部分：电磁兼容（EMC）》 2、GB/T 20242-2006 声学助听器真耳声特性的测量方法 3、GB/T 20249-2006 声学聚焦超声换能器发射场特性的定义与测量方法查看详情>>

视觉康复设备

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视觉康复设备相关标准：
1、GB/T 25102.13-2010 《电声学助听器第13部分：电磁兼容（EMC）》
2、GB/T 20242-2006 声学助听器真耳声特性的测量方法
3、GB/T 20249-2006 声学聚焦超声换能器发射场特性的定义与测量方法

收起百科↑ 最近更新：2023年07月19日

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中金金融认证中心有限公司

检测项：功能恢复检测样品：智能卡嵌入式软件标准：GB/T 22186-2008 《信息安全技术具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求》（评估保证级4增强级）

检测项：重放检测检测样品：智能卡嵌入式软件标准：GB/T 22186-2008 《信息安全技术具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求》（评估保证级4增强级）

检测项：安全策略的不可旁路性检测样品：智能卡嵌入式软件标准：GB/T 22186-2008 《信息安全技术具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求》（评估保证级4增强级）

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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成都泰瑞通信设备检测有限公司

检测项：时钟芯片频率偏差检测样品：WLAN设备标准：IEEE 802.11b-1999 无线局域网媒体访问控制(MAC)和物理层(PHY)规范.扩展到2.4 GHZ带宽的高速物理层

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：芯片剪切强度检测样品：半导体集成电路失效分析标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：芯片粘接的超声检测检测样品：半导体集成电路失效分析标准：1、GJB 3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：芯片剪切强度检测样品：电子元器件及设备物理性能试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

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