官方微信
您当前的位置:首页 > 调谐频率误差
检测项:调谐频率步进 检测样品:有线电视系统电源设备 标准:GB/T 11318.9-1996《电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件 第9部分:电源设备通用设备》
检测项:低温检验本振频率容限 检测样品: 标准:
检测项:高温检验本振频率容限 检测样品: 标准:
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:V/F失调误差 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:V/F失调误差温度系数 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:V/F增益误差 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:测量频率的均方根误差及测量范围;测量脉冲宽度的均方根误差及测量范围;测量重复周期的均方根误差及测量范围 检测样品:电子电工产品 标准:声纳通用规范 GJB22A-2011
检测项:发射脉冲宽度及误差 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
检测项:测向均方根误差 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:相位误差和频率误差 检测样品:移动台 标准:900MHz,1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备测试方法:移动台 YD/T 1215-2006
检测项:频率误差 检测样品:移动台 标准:移动通信手持机可靠性技术要求与测试方法 YD/T 1539-2006
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:频率范围及频率误差 检测样品:脉冲信号源 标准:脉冲信号发生器技术条件 GB/T 9317-2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:仪器径向误差 检测样品:圆度仪 标准:圆度测量仪 GB/T26098-2010
检测项:调焦运行误差 检测样品:水准仪 标准:水准仪 GB/T 10156-2009
检测项:失调误差EO 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项:截止态漏极漏电流ID 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项:导通态漏电流IDS 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:频率误差及频率步进值 检测样品:WCDMA直放站 标准:2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1554-2007
检测项:频率误差及频率步进值 检测样品:TD-SCDMA 直放站 标准:2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1711-2007
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:频率误差及频率步进值 检测样品:直放站 标准:2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1554-2007
检测项:频率误差 检测样品:直放站 标准:2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1554-2007
检测项:频率误差 检测样品:直放站 标准:900MHz/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011
检测项:频率误差 检测样品:GSM移动手机通信设备 标准:FCC PART 2:2010 频率分配和射频条款:通用规章制度
检测项:频率误差 检测样品:GSM移动手机通信设备 标准:FCC PART 22:2010 公共移动服务
检测项:频率误差 检测样品:GSM移动手机通信设备 标准:FCC PART 24:2010 个人通讯服务
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:模拟乘法器 标准:半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T 14029-1992
检测项:功能 检测样品:采样/保持放大器 标准:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996;
检测项:功能 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>