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检测项:漏-源击穿电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:漏极电流 检测样品:场效应 晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:静态漏-源通态电阻 检测样品:场效应 晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:截止态漏极漏电流ID 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项:漏源极截止电流IDSS 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
检测项:静态漏-源通态电阻rDS 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:耐漏液性能 检测样品:锂原电池 标准:原电池 第4部分:锂电池的安全要求 GB 8897.4-2008
检测项:耐漏液性能 检测样品:手表电池 标准:原电池 第1部分IEC 60086-1:2007 总则原电池 第2部分:外形尺寸和技术要素 IEC 60086-2:2007
检测项:耐漏液性能 检测样品:手表电池 标准:原电池 第3部分:手表电池 GB/T 8897.3-2006 IEC 60086-3:2004
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:残磁 检测样品:滚动轴承 标准:JB/T8571-2008滚动轴承 密封深沟球轴承防尘、漏脂、温升性能试验规程
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:漏射线 检测样品:携带式工业X射线探伤机 标准:携带式工业X射线探伤机 JB/T 7413-1994
检测项:漏辨率 检测样品:人民币伪钞鉴别仪 标准:人民币伪钞鉴别仪 GB 16999-2010
检测项:漏射线 检测样品:固定式(移动式)工业X射线探伤机 标准:固定式(移动式)工业X射线探伤机 JB/T 7412-1994
检测项:静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:漏-源击穿电压V(BR)DSS 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:漏极截止电流IDSS 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:防火卷帘 标准:《防火卷帘》GB 14102-2005
机构所在地:广西壮族自治区南宁市 更多相关信息>>
检测项:密封性能试验 检测样品:滚动轴承 标准:滚动轴承 密封深沟球轴承防尘、漏脂和温升性能试验规程 JB/T 8571-2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:防尘 检测样品:滚动轴承 标准:《滚动轴承密封深沟球轴承防尘、漏脂、温升性能试验规程》JB/T8571-2008
检测项:漏脂 检测样品:滚动轴承 标准:《滚动轴承 测量和检验的原则及方法》GB/T307.2-2005