上海精密计量测试研究所

检测项：逻辑输出电压电平 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平阈值电压VOHT 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

山东省计算中心

检测项：系统输出电平 检测样品：建筑智能化系统 标准：智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003

检测项：载波互调比 检测样品：建筑智能化系统 标准：智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003

检测项：载波交流声 检测样品：建筑智能化系统 标准：智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

北京全路通信信号研究设计院监测检测实验室

检测项：额定输出电平 检测样品：铁路列车无线通信系统中继器 标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行） 条款：五（四）

检测项：发射机载波输出功率 检测样品：无线电接收发射设备 标准：GB/T 15844.1-1995 移动通信调频无线电话机通用技术条件 YD/T 744-2009 准同步数字系列（PDH）数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 GB/T 12192-1990 移动通信调频无线电话机发射机测量方法 GB/T 121

检测项：剩余输出电平 检测样品：铁路列车无线通信系统电台 标准：TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件 运基通信【2000】208号文 铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行）条款五（一）、（二） 运基通信【2003】349号文 关于发布《800MHz列尾和列车安全预警系统主要技术条件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出低电平电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1

检测项：输出高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1

检测项：输出高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：输入输出电平差 检测样品：数字电影放映系统 标准：《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012

检测项：线路输出最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：最高输出电平 检测样品：数字投影机 标准：《数字投影机通用规范》SJ/T 11298－2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出逻辑电压电平 检测样品：电磁继电器 标准：GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范

检测项：输出逻辑电压电平 检测样品：电磁继电器 标准：GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范

检测项：输出高电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平阈值电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>