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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:电子开关元器件 检测样品:特殊用途 开关 标准:特殊用途 开关 UL1054: 2013 (年代号变更)
检测项:电子开关元器件 检测样品:器具开关 标准:器具开关 第一部分:通用要求 GB15092.1:2010 IEC61058-1:2008 UL61058-1:2009
检测项:电子开关的不正常工作和故障条件 检测样品:器具开关 标准:器具开关 第一部分:通用要求 GB15092.1:2010 IEC61058-1:2008 UL61058-1:2009
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:纳米粒度 检测样品:粉末及多孔材料 标准:粒度分析 光子相关光谱法 GB/T 19627-2005
检测项:比表面积 检测样品:粉末及多孔材料 标准:气体吸附BET法测定固态物质比表面积 GB/T 19587-2004
检测项:热扩散 系数 检测样品:固体、液体、浆状物质 标准:闪光法测量热扩散系数或导热系数 GB/T 22588-2008
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:直流电阻测试 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:接触电阻测试 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:触点抖动监测 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:外部目检 检测样品:塑封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
检测项:X射线检查 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
检测项:外部目检 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项: 检测样品: 标准:
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:内部元器件表面最高温度 检测样品:消防应急灯具 标准:GB17945-2010 消防应急照明和疏散指示系统
检测项:附着强度 检测样品:有衬里消防水带 标准:GB/T532-2008 硫化橡胶或热塑性橡胶与织物粘合强度的测定
检测项:外观质量 检测样品:有衬里消防水带 标准:GB6246-2011 消防水带
机构所在地:江西省南昌市 更多相关信息>>
检测项:高温试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
检测项:交变湿热试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
检测项:盐雾试验 检测样品:电子器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:进气器件 检测样品:一次性使用输液器 标准:GB8368-2005 《一次性使用输液器 重力输液式》
检测项:进气器件 检测样品:一次性使用输液器 标准:一次性使用输液器 重力输液式 GB8368-2005
检测项:标尺的刻度容量线 检测样品:一次性使用无菌注射器 标准:GB15810-2001 《一次性使用无菌注射器》
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:外观 检测样品:LED照明产品 标准:微电子器件试验方法和程序 2009以及2016 GJB548B-2005;金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:总光通量 检测样品:发光二极管芯片 标准:微电子器件试验方法和程序2009以及2016; GJ/B548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:峰值波长 检测样品:发光二极管芯片 标准:微电子器件试验方法和程序2009以及2016; GJ/B548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005