贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：模拟开关 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

检测项：输入偏置电流（误差放大器）IIB 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流 IIb 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：偏置电流Ibias 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：模拟输入电流AI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：谐波电流 检测样品：低压电气及电子设备（EMC） 标准：GB17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流<=16A） IEC61000-3-2：2001 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流<=16A） AS/NZS 61000.3.2:2003电磁兼容 限值 谐波

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品：工业、科学和医疗射频设备 标准：(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容 限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输入偏置电流（反相）Ib- 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：输入偏置电流（反相）Ib- 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：输入偏置电流（同相）Ib+ 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入偏置电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入偏置电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：输入偏置电流 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：输入电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>