中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东志高空调有限公司成品检验部实验室

检测项：输入功率 检测样品：除湿机 标准：GB/T 19411-2003 除湿机

检测项：单位输入功率除湿量 检测样品：房间空气调节器 标准：AS/NZS 3823.1.1:2012 电动器具的性能-空调与热泵。第1.1部分:测试方法-无风管送风式空调与热泵-性能测试方法

检测项：谐波电流 检测样品：房间空气调节器、除湿机和其它类似器具 标准：GB 17625.1-2003 电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入特性 检测样品：车载稳压电源 标准：GJB3836—99车载稳压电源通用规范

检测项：输入驻波比 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国舰船研究设计中心检测校准实验室

检测项：15kHz～10GHz输入端互调传导敏感度CS03 检测样品：军用设备和分系统 标准：HJB 34A-2007《舰船电磁兼容性要求》

检测项：25Hz～20GHz输入端寄生信号传导敏感度CS04 检测样品：军用设备和分系统 标准：HJB 34A-2007《舰船电磁兼容性要求》

检测项：25Hz～20GHz输入端交叉调制传导敏感度CS05 检测样品：军用设备和分系统 标准：HJB 34A-2007《舰船电磁兼容性要求》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司七五0试验场计量测试技术研究中心

检测项：输入电功率 检测样品：环境电磁场 标准：GJB 2080-1994 接收点场强的 一般测量方法

检测项：输入电功率 检测样品：水声换能器 标准：水声换能器测量 GB/T 7965-2002

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输入负载电流ILI 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输入电流II 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国检验检疫科学研究院综合检测中心

检测项：输入功率和电流 检测样品：家用电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分:通用要求GB 4706.1-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输入功率 检测样品：LED筒灯 标准：1、GB/T 29293-2012 LED筒灯性能测量方法 2、GB/T 29294-2012 LED筒灯 性能要求

检测项：输入电流 检测样品：LED筒灯 标准：1、GB/T 29293-2012 LED筒灯性能测量方法 2、GB/T 29294-2012 LED筒灯 性能要求

检测项：最小输入输出压差|VI-VO|min 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京汽车研究所有限公司实验中心

检测项：寒冷地区适应性试验 检测样品：汽车 标准：GB/T 6323.2—94《汽车操纵稳定性试验方法 转向瞬态响应试验》（方向盘转角阶跃输入）

检测项：寒冷地区适应性试验 检测样品：汽车 标准：GB/T 6323.3—94《汽车操纵稳定性试验方法 转向瞬态响应试验》（方向盘转角脉冲输入）

检测项：寒冷地区适应性试验 检测样品：汽车 标准：GB/T 6323.2—94《汽车操纵稳定性试验方法 转向瞬态响应试验》（方向盘转角阶跃输入）

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>