北京尊冠科技有限公司

检测项：输入二级管正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

检测项：正向电压（VF） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》

检测项：正向跨导（gfs） 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

富士康（昆山）电脑接插件有限公司实验室

检测项：正向力 检测样品：电子及电气零组件 标准：电气连接器正向力测试程序 EIA-364-04A-2002

检测项：正向力 检测样品：电子及电气零组件 标准：汽车电气连接器系统性能规范 SAE/USCAR-2-2007 section5.7.1

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

富港电子（东莞）有限公司Foxlink实验室

检测项：正向力 检测样品：连接器产品 标准：EIA-364-04A：2009 电子连接器正向力测试

检测项：正向力 检测样品：连接器产品 标准：电子连接器正向力测试 EIA-364-04A：2002(R2009)

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

富港电子（昆山）有限公司Foxlink实验室

检测项：正向力 检测样品：塑料材料 标准：EIA-364-04A-2002 电子连接器正向力测试

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

连展科技（深圳）有限公司检测中心

检测项：正向力 检测样品：电子 连接器 标准：电子连接器正向力测试方法EIA-364-04A-2002

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：正向跨导gfs 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：栅-源阈值电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：同步阈值电压VT(S) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：阈值电压 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：阈值电压 检测样品：场效应管IGBT 标准：半导体分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：正向电流 检测样品：光耦 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：栅源阈值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

检测项：正向压降 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>