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检测项：输入功率 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第一部分：通用要求 GB 4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全 液体加热器的特殊要求 GB 4706.19-2008 家用和类似用途电器的安全 风扇的特殊要求 GB 4706.27-2008
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：互换性 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
检测项：意外接触带电部件的防护 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
检测项：潮湿处理后的绝缘电阻和介电强度 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项：辐射骚扰 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+ A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+ A1:2009+A2:2009 AS/NZ
检测项：谐波电流 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+ A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+ A1:2009+A2:2009 AS/NZ
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 61000.3.2:2007/Amdt
检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； GB 17625.1-2012； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 610
机构所在地：安徽省滁州市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002+A1:2004 +A11:2004+A12:2006 +A2:2006 +A13:2008 GB 4706.1:2005 AS/NZS 60335.1:2011 家用和类
检测项：谐波电流 检测样品：电气电子设备 标准：谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000-3-2:2005(ed.3)+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002 +A1:2004+A11:2004 +A2:2006+A12:2006 +A13:2008+A14:
机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输入箝位电压 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入电流测试 检测样品：音视频设备 标准：音频视频及类似的电子设备.安全要求 GB 8898-2011 IEC 60065:2001+A12005+A2:2010 EN 60065:2002+A1:2006+A11:2008+A2:2010+A12:2011
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002+A11:2004+A1:2004+A12:2006+A2:2006+A13:2008+A14:2010+A15:2011
