德凯质量测试服务（浙江）有限公司

检测项：所有项目 检测样品：家用及类似场所用过电流保护断路器 标准：家用和类似场所用过电流保护断路器 第1部分:用于交流的断路器 GB10963.1-2005 IEC 60898-1:2002 (ed.1) +A1:2002 +A2 :2003 EN 60898-1:2003+ A1:2004 +A11:2005+ A

机构所在地：浙江省温州市 更多相关信息>>

深圳市沃尔核材股份有限公司检测中心

检测项：工频交流耐压试验 检测样品：橡塑材料、电绝缘材料 标准：IEC61442-2005 额定电压 6kV（Um=7.2kV）到30kV（Um=36kV）电力电缆附件的试验方法 第4章 GB/T18889-2002 额定电压6kV（Um=7.2kV）到35kV（Um=40.5kV）电力电缆附件试验方法

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市共进电子股份有限公司实验室

检测项：布线，连接和供电 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分:一般要求 GB 4943.1:2011; IEC 60950-1:2005 (2nd Edition)+Am 1:2009+Am2: 2013; EN 60950-1:2006+A12:2011+A2:2013; UL 609

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 EN 55013: 2001+A1+A2

检测项：部分项目 检测样品：影音产品 标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电骚扰特性限值和测量方法 CISPR13：2001+A1 CISPR13：2006（EN 55013：2001+A1）

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>