泉州海天材料科技股份有限公司检测中心

检测项：水洗尺寸变化率 检测样品：纺织品 标准：纺织品 测定尺寸变化的试验中织物 试样和服装的准备、标记及测量 GB/T 8628-2001

检测项：水洗尺寸变化率 检测样品：纺织品 标准：纺织品 洗涤和干燥后尺寸变化的测定 GB/T 8630-2002

检测项：水洗尺寸变化率 检测样品：纺织品 标准：纺织品 测定尺寸变化的试验中织物 试样和服装的准备、标记及测量 ISO 3759:2011

机构所在地：福建省泉州市 更多相关信息>>

东莞市以纯集团有限公司质量检测中心

检测项：尺寸变化率缩水率 检测样品：纺织品 标准：纺织品 测定尺寸变化的试验中织物试样和服装的准备、标记及测量 GB/T 8628-2013

检测项：尺寸变化率缩水率 检测样品：纺织品 标准：纺织品 试验用家庭洗涤和干燥程序 GB/T 8629-2001

检测项：耐皂洗色牢度 检测样品：纺织品 标准：纺织品 洗涤和干燥后尺寸变化的测定GB/T8630-2013

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

哈尔滨飞机工业集团有限责任公司检测校准实验室

检测项：耐液体 检测样品：橡胶 标准：硫化橡胶或热塑性橡胶耐液体试验方法 GB/T1690-2010

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>

通标标准技术服务（天津）有限公司

检测项：温度变化试验 检测样品：电工电子产品 标准：基本环境试验规程第2部分 试验N：温度变化试验 IEC 60068-2-14:2009

检测项：温度变化 检测样品：汽车电子产品环境试验 标准：环境试验，第2-14部分：试验：试验N:温度变化 IEC 60068-2-14：2009

检测项：紫外透过率 检测样品：化工产品 标准：乙二醇紫外透过率测试方法(紫外分光光度法) ASTM E2193-08

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

江苏出入境检验检疫局纺织工业产品检测中心

检测项：部分项目 检测样品：服装 标准：服装理化性能的技术要求 GB/T 21295-2007

检测项：长度 检测样品：丝织物试验方法 标准：丝织物试验方法 GB/T 15552-2007

检测项：可分解芳香胺染料 检测样品：丝织物试验方法 标准：丝织物试验方法 GB/T 15552-2007

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

中蓝晨光化工研究设计院有限公司合成材料检验实验室

检测项：尺寸及尺寸稳定性和收缩率 检测样品：塑料制品 标准：塑料 薄膜和薄片 加热尺寸变化率试验方法

检测项：圆球率 检测样品：塑料和树脂 标准：离子交换树脂渗磨圆球率、磨后圆球率的测定　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　GB/T 12598-2001

检测项：成型收缩率 检测样品：塑料和树脂 标准：塑料--热固性模制材料--收缩率的测定 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ISO 2577-2007

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中纺协（北京）检验技术服务有限公司

检测项：部分项目 检测样品：服装 标准：GB/T 21295-2007 服装理化性能的技术要求

检测项：部分项目 检测样品：服装 标准：GB/T 21294-2007 服装理化性能的检验方法

检测项：部分项目 检测样品：服装 标准：服装理化性能的检验方法GB/T 21294-2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

云南昆岭薄膜工业有限公司质检中心

检测项：热收缩率 检测样品：烟用包装膜 标准：《塑料 薄膜和薄片 加热尺寸变化率试验方法》 GB/T 12027-2004

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

海宁市产品质量监督检验所（浙江省太阳能产品质量检验中心）

检测项：热收缩率 检测样品： 标准：《塑料薄膜和薄片加热尺寸变化率试验方法》 GB/T 12027-2004

机构所在地：浙江省海宁市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低三态输出电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>