中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：温度循环、温度冲击 检测样品：电子和电气产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N： 温度变化 GB/T 2423.22-2002 军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5A-2009

检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司单板装联工艺实验中心

检测项：温度变化试验 检测样品：电工电子产品 标准：环境试验.第2部分：试验方法.试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）GB/T 2423.10-2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

上海谱尼测试技术有限公司

检测项：温度变化 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2002

检测项：尺寸变化率 检测样品：纺织品 标准：纺织品－纺织品测试采用的家庭洗涤和干燥程序 GB/T 8629-2001

检测项：部分参数 检测样品：针织休闲服装 标准：针织休闲服装 FZ/T 73020-2012

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一五研究所校准/检测实验室

检测项：温度变化 检测样品：电子电工产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2002

检测项：可靠性鉴定和验收试验 检测样品：军用设备 标准：可靠性鉴定和验收试验GJB899-1990

检测项：电子设备环境应力筛选 检测样品：军用设备 标准：电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-1990

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

兰州飞行控制有限责任公司环境试验中心

检测项：环境应力筛选试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品。 标准：GJB1032-90 电子产品环境应力筛选方法 HB6206-89 机载电子设备环境应力筛选方法

检测项：环境应力筛选试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品。 标准：GJB1032-1990 电子产品环境应力筛选方法

检测项：环境应力筛选试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品。 标准：HB6206-1989 机载电子设备环境应力筛选方法

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

中国飞行试验研究院校准/检测实验室

检测项：温度冲击试验 检测样品：电 子 设 备 标准：GJB150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验

检测项：振动试验 检测样品：电 子 设 备 标准：GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验

检测项：振动试验 检测样品：电 子 设 备 标准：GJB150.16A-2009 军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国兵器装备集团摩托车检测技术研究所

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度** 检测样品：电子电工产品EMC 标准：GB/T 17626.11-2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17618-1998 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB 4343.

检测项：电压变化电压波动和闪烁* 检测样品：电子电工产品EMC 标准：GB 17625.2-2007电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 IEC 61000-3-3:2005 电磁兼容

检测项：电磁骚扰* 检测样品：电子电工产品EMC 标准：GB 4824-2004工业、科学和医疗（ISM）射频设备电磁骚扰特性限值及测量方法 CISPR 11:2003 工业、科学和医疗（ISM）射频设备电磁骚扰特性限值及测量方法

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

联想（北京）有限公司可靠性实验室

检测项：电压波动和闪烁试验 检测样品：微型计算机 标准：《电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限值》GB17625.2-2007

检测项：电压暂降和短时中断抗扰度试验 检测样品： 标准：《电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.11-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

苏州泰斯特测控科技有限公司

检测项：温度变化 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 试验Na/Nb GB/T2423.22-2012 环境试验.第2-14部分:试验.试验N:温度的改变 IEC 60068-2-14-2009

检测项：温度冲击 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB150.5-1986

检测项：环境应力筛选 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-1990

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>