安徽中认倍佳科技有限公司

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； IEC 61000-3-3:2008 EN61000-3-3:2008

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； IEC 61000-3-3:2008 EN61000-3-3:2008

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 61000.3.2:2007/Amdt

机构所在地：安徽省滁州市 更多相关信息>>

深圳市环球众一科技有限公司

检测项：电压波动和闪烁 检测样品： 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008 EN 61000-3-3: 2008

检测项：电压波动和闪烁 检测样品： 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2005 EN 61000-3-3: 1995+A1:2001+A2:2005

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电气照明和类似设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 IEC 61000-3-3:2008 IEC 61000-3-3:2013 EN 61000-3-3: 2008 EN 61000-3-3

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额 定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008 EN 61000-3-3:2008

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 额定电流 不大于75A并且需要有条件接入的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB/Z 17625.3-2000 IEC 61000-3-11:2000 EN 61000-3-11:2000

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额 定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008 EN 61000-3-3:2008

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

松下家电研究开发（杭州）有限公司评价中心

检测项：电压波动及闪烁 检测样品：电子 电器 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2005 IEC 61000-3-3:2013

检测项：谐波电流 检测样品：电子 电器 标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009

检测项：浪涌抗扰度 检测样品：电子 电器 标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009

机构所在地： 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平时电源电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：电源的输出电压电流额定值 检测样品：AC/DC 直流供电电源 标准：GJB 4414-2002军用雷达和电子对抗装备AC/DC电源规范 SJ 20825-2002军用装备直流供电电源总规范

检测项：输出电流可调范围 检测样品：AC/DC 直流供电电源 标准：GJB 4414-2002军用雷达和电子对抗装备AC/DC电源规范 SJ 20825-2002军用装备直流供电电源总规范

检测项：输出特性 检测样品：车载稳压电源 标准：GJB 3836-1999 车载稳压电源通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出电流 检测样品：电阻 标准：电子设备用固定电阻器总规范 GB/T5729-2003 第4.5条

检测项：输出电流 检测样品：电阻器 标准：电子设备用固定电阻器总规范 GB/T5729-2003 第4.5条

检测项：高电平输出电流 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出高电平时电源电流ICCH 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：输出低电平时电源电流ICCL 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：视频通道输出电平 检测样品：家庭影院用环绕声放大器 标准：家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：电气照明和类似设备（EMC） 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限

检测项：阈值电流Ith、输出光功率P－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>