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X射线高压发生器产品描述: 通常由高压变压器组件和高压控制器组成。X射线机的主要部件,控制和产生供X射线管工作的电能。 X射线高压发生器预期用途: 装配于诊断X射线机,为X射线管组件提供电能,以产生X射线。 X射线高压发生器品名举例: X射线高压发生器 X射线高压发生器管理类别: Ⅱ X射线高压发生器相关指导...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月08日
检测项:输出信号的和 检测样品:倍频程和分数倍频程滤波器 标准:电声学 倍频程和分数倍频程滤波器 GB/T 3241-2010
检测项:稳定性 检测样品:可见分光光度计 标准:可见分光光度计 JB/T 9324-1999
检测项:温度 检测样品:外壳对人和设备的防护检验用试具 标准:外壳对人和设备的防护检验用试具GB/T 16842-2008
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:输出电流限制 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:最大射频输出功率 检测样品:移动台 标准:电磁兼容性和无线频谱事物(ERM);IMT-2000第三代蜂窝网络的基站(BS),无线电和电信终端设备(UE);第4部分:满足R&TTE指示中的条款3.2的基本要求的IMT-2000, CDMA多重载波(cdma2000)(UTRA FDD) ETSI E
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:基准镇流器-基准灯组合的光输出 检测样品:微型计算机 标准:GB 28380-2012 微型计算机能效限定值及能效等级
检测项:被测镇流器-基准灯组合的光输出 检测样品:微型计算机 标准:GB 28380-2012 微型计算机能效限定值及能效等级
检测项:失真限制的输出功率 检测样品:声频功率放大器 标准:SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:*异常工作及故障条件下的要求 检测样品:充电器 标准:《单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值》GB 20943-2007
检测项:**稳定性和机械危险 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:《电信终端设备的安全要求和试验方法》YD/T 965-1998
检测项:*设备稳定性 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:《电信终端设备的安全要求和试验方法》YD/T 965-1998
机构所在地:广东省河源市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出电流调整率 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:记录数据的输出及传送功能检查 检测样品:继电保护测试装置 标准:继电保护微机型试验装置技术条件DL/T624 -2010
检测项:输出TSF数据的可用性 检测样品:信息系统 标准:GB/T18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
检测项:输出TSF数据的保密性 检测样品:信息系统 标准:GB/T18336.2-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分:安全功能要求
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:灯具光输出比 检测样品:灯具 标准:灯具分布光度测量的一般要求 GB/T 9468-2008
检测项:光输出 检测样品:卤钨灯(非机动车辆用) 标准:白炽灯寿命试验的测量方法 IES LM-49-12
检测项:光输出 检测样品:紧凑型荧光灯 标准:荧光灯的寿命测量方法 IES LM-40-10