运算验证检测实验

电子射野成像系统

简介

电子射野成像系统

简介

电子射野成像系统产品描述：通常由正对于治疗射线束的射线探测单元、相关软件等组成。

电子射野成像系统预期用途：配合外照射设备，通过采集射野图像，主要用于患者在放射治疗中的引导和位置验证。

电子射野成像系统品名举例：电子射野成像装置、实时影像动态验证系统

电子射野成像系统管理类别：Ⅲ

电子射野成像系统相关指导原则：
1、用于放射治疗的X射线图像引导系统注册技术审查指导原则

电子射野成像系统相关标准：
1、YY/T 1676-2020 超声内窥镜
2、YY/T 1480-2016 基于声辐射力的超声弹性成像设备性能试验方法
3、YY/T 1521-2017 超声弹性仿组织体模的技术要求下载

电子射野成像系统相关检测项目：
1 . 通用要求《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》
2 . 机械支撑结构《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》
3 . 成像性能要求《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》

收起百科↑ 最近更新：2023年03月02日

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：（运算放大器）短路输出电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：（运算放大器）短路输出电流检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

机构所在地：上海市更多相关信息>>

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国网四川省电力公司电力科学研究院

检测项：密码运算检测样品：信息系统标准：GB/T18336.2-2008 信息技术安全技术信息技术安全性评估准则第2部分：安全功能要求

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浙江省高低压电器产品质量检验中心

检测项：部分项目检测样品：母线干线系统（母线槽）标准：低压成套开关设备和控制设备第2部分：对母线干线系统（母线槽）的特殊要求 GB7251.2-2006 IEC 60439-2:2000

检测项：部分项目检测样品：低压成套无功功率补偿装置标准：低压成套无功功率补偿装置GB/T15576-2008

检测项：部分项目检测样品：公用电网动力配电成套设备标准：低压成套开关设备和控制设备第5部分：对公用电网动力配电成套设备的特殊要求GB7251.5-2008 IEC 60439-5:2006

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通标标准技术服务有限公司深圳分公司检测中心

检测项：镉含量检测样品：塑料及涂层标准：验证预涂层物件的镍释放用模拟磨损检验和腐蚀检验 EN 12472:2005+A1:2009 验证预涂层物件的镍释放用模拟磨损检验和腐蚀检验 BS EN 12472:2005＋A1:2009 验证预涂层物件的镍释放用模拟磨损检验和腐蚀检验 DIN EN

检测项：多环芳烃检测样品：皮革标准：在GS标志认证过程中多环芳香烃（PAH）的检测和验证 ZEK01.4-08

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南阳市爆炸与火灾安全防范重点实验室

检测项：灼热丝试验检测样品：防爆电器标准：GB14048.1-2012低压开关设备和控制设备第1部分：总则

检测项：金属导线管拉出、弯曲、扭转试验检测样品：防爆电器标准：GB14048.1-2012低压开关设备和控制设备第1部分：总则

检测项：验证指示隔离电器主触头位置机构有效性试验检测样品：防爆电器标准：GB14048.1-2012低压开关设备和控制设备第1部分：总则

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重庆电气产品检测中心

检测项：部分项目检测样品：公用电网动力配电成套设备 /低压成套开关设备标准：低压成套开关设备和控制设备第5部分：对公用电网动力配电成套设备的特殊要求 GB7251.5-2008

检测项：部分项目检测样品：低压成套无功功率补偿装置标准：低压成套无功功率补偿装置 GB/T 15576-2008

检测项：部分项目检测样品：母线干线系统（母线槽）标准：低压成套开关设备和控制设备第二部分：对母线干线系统（母线槽）的特殊要求 GB 7251.2-2006

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河北省产品质量监督检验院

检测项：部分项目检测样品：母线干线系统(母线槽) 标准：低压成套开关设备和控制设备第2部分：对母线干线系统(母线槽)的特殊要求 GB7251.2-2006

检测项：部分项目检测样品：标称电压高于1000V的交流架空线路用复合绝缘子尺寸和电气特性标准：标称电压大于1000V的架空路线用悬式复合绝缘子元件第2部分：尺寸和电气特性 GB/T20876.2-2007 标称电压高于1000V的交流架空线路用复合绝缘子——定义、试验方法及验收准则 GB/T 19519-2004

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输出低电平电压检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输入高电平电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入负向阈值电压VIT 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

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