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收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数,收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器:薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
检测项:有关物质 检测样品:药品 标准:中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)
检测项:含量测定(效价测定) 检测样品:药品 标准:中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)
检测项:含量测定(效价测定) 检测样品:药品 标准:中国药典2010年版二部附录VH(分子排阻色谱法)
机构所在地:安徽省合肥市
检测项:不溶性微粒 检测样品:注射用无菌粉末用氯(溴)化丁基橡胶塞 标准:国家药品包装容器(材料)标准注射液用卤化丁基橡胶塞YBB00042005包装材料不溶性微粒测定法:光阻法YBB00272004
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:导热系数 检测样品:耐碱纤维网格布 标准:绝热材料稳态热阻及有关特性的测定防护热板法 GB/T10294-2008
检测项:减水率 检测样品:混凝土早强剂 标准:混凝土外加剂 GB8076-2008
检测项:耐碱断强力保留率 检测样品:耐碱纤维网格布 标准:膨胀聚苯板簿抹灰外墙外保温系统 JG149-2003
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市
检测项:稳态热阻 检测样品:功率金属氧化物场效应管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3161.1
检测项:稳态热阻 检测样品:晶闸管 标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3136
机构所在地:陕西省西安市
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市