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限束装置产品描述:通过限制X射线初级线束的几何形状以限制设备的辐射野。 限束装置预期用途:装配于X射线管组件的出线口处,限制X射线的辐射野。 限束装置品名举例:X射线限束器 限束装置管理类别:Ⅱ 限束装置相关指导原则: 1、含儿科应用的医用诊断X射线设备注册审查指导原则 2、医用诊断X射线管组件注册技术审查指导原则 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月08日
检测项:额定热负荷能效 检测样品:家用燃气灶具 标准:家用燃气快速热水器和燃气采暖热水炉能效限定值及能效等级GB20665-2006
检测项:热水性能 检测样品:家用燃气灶具 标准:家用燃气快速热水器和燃气采暖热水炉能效限定值及能效等级GB20665-2006
检测项:≤50%额热负荷能效 检测样品:家用燃气灶具 标准:家用燃气灶具GB16410-2007
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:能效等级 检测样品:单端荧光灯 标准:普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 GB 19044-2013
检测项:能效等级 检测样品:高压钠灯 标准:普通照明用双端荧光灯能效限定值及能效等级GB 19043-2013
检测项:能效等级 检测样品:金属卤化物灯 标准:高压钠灯能效限定值及能效等级GB 19573-2004
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:全部能效参数 检测样品:平板电视 标准:GB 24850-2010:平板电视能效限定值及能效等级
检测项:全部能效参数 检测样品:计算机显示器 标准:GB21520-2008:计算机显示器能效限定值及能效等级
检测项:全部能效参数 检测样品:平板电视 标准:平板电视能效限定值及能效等级 GB 24850-2010
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:平板电视能效等级 检测样品:平板电视 标准:平板电视能效限定值及能效等级GB 24850-2010
检测项:平板电视能效等级 检测样品:平板电视 标准:平板电视能效限定值及能效等级 GB 24850-2013
检测项:音频输出功率 检测样品:平板电视 标准:平板电视能效限定值及能效等级GB 24850-2010
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:能效等级及光通维持率 检测样品:单端荧光灯 标准:GB 19044-2003 普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级
检测项:能效等级及光通维持率 检测样品:双端荧光灯 标准:GB 19043-2003 普通照明用双端荧光灯能效限定值及能效等级
检测项:能效限定值及光通维持率 检测样品:双端荧光灯 标准:GB 19043-2003 普通照明用双端荧光灯能效限定值及能效等级
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:能效指数 检测样品:平板电视 标准:平板电视能效限定值及能效等级 GB 24850-2013
检测项:被动待机功率 检测样品:计算机显示器 标准:计算机显示器能效限定值及能效等级 GB 21520-2008
检测项:六价铬 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定 GB/T 26125-2011 电子电气产品中限用物质的限量要求 GB/T 26572-2011 电子电气产品中限用的六种物质(铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)浓度的测
检测项:多溴联苯、 多溴二苯醚 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定 GB/T 26125-2011 电子电气产品中限用物质的限量要求 GB/T 26572-2011 电子电气产品中限用的六种物质(铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)浓度的测
检测项:铅、汞、镉 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定 GB/T 26125-2011 电子电气产品中限用物质的限量要求 GB/T 26572-2011 电子电气产品中限用的六种物质(铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)浓度的测
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:限用物质 检测样品:电子电气产品 标准:GB/T 26572-2011电子电气产品中限用物质的限量要求
检测项:全部参数 检测样品:打印机、传真机能效限定值及能效等级 标准:GB 25956-2010打印机、传真机能效限定值及能效等级
检测项:全部参数 检测样品:复印机能效限定值及能效等级 标准:GB 21521-2008复印机能效限定值及能效等级
机构所在地:广东省珠海市 更多相关信息>>
检测项:短路正向跨导gfs 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:漏-源击穿电压V(BR)DSS 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电流IIO 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入偏置电流IIB 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>