上海华碧检测技术有限公司

检测项： 检测样品：电子器件 标准：

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：接触式IC卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

检测项：非接触式IC卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

检测项：双界面卡 检测样品：建设事业集成电路（IC）卡 标准：CJ/T 166-2006 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 243-2007 建设事业集成电路（IC）卡产品检测

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心

检测项： 检测样品： 标准：

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

无锡华润华晶微电子有限公司计量检测中心

检测项：pH值 检测样品：化学试剂 标准：化学试剂pH值测定通则GB/T9724-2007

检测项：砷 检测样品：化学试剂 标准：化学试剂砷测定通用方法 GB/T610-2008

检测项：磷酸盐 检测样品：化学试剂 标准：化学试剂磷酸盐测定通用方法GB/T9727-2007

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

四川省银河化学股份有限公司分析测试中心

检测项：细 度 检测样品： 标准：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 GB/T 17473.2-2008

检测项：粘 度 检测样品： 标准：微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 GB/T 17473.5-2008

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990

检测项：部分参数 检测样品：半导体分立器件发光二极管 标准：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 IEC 60747-10:1991

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

爱斯佩克测试科技（上海）有限公司

检测项：高温试验 检测样品：电子器件 标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

检测项：交变湿热试验 检测样品：电子器件 标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

检测项：盐雾试验 检测样品：电子器件 标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

南京市产品质量监督检验院

检测项：部分参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《集成电路(IC)卡读写机通用规范》 GB/T 18239-2000

检测项：部分参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《串行击打式点阵打印机通用规范》 GB/T 9314-2011

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

检测项：全项目 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：集成电路(IC)卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：全项目 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：集成电路(IC)卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：静放电敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：电源瞬态敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：辐射和传导敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>