上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：老炼试验 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：密封试验 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：外观 检测样品：LED照明产品 标准：微电子器件试验方法和程序 2009以及2016 GJB548B－2005；金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：总光通量 检测样品：发光二极管芯片 标准：微电子器件试验方法和程序2009以及2016； GJ/B548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：峰值波长 检测样品：发光二极管芯片 标准：微电子器件试验方法和程序2009以及2016； GJ/B548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

机械工业仪器仪表综合技术经济研究所测量控制设备及系统实验室

检测项：高温 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：湿热 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：振动 检测样品：电子、电气、电工、铁路机车装置、军用设备产品 （环境试验） 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：高温试验 检测样品：通用电子产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2030

检测项：高温试验 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

检测项：碰撞 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2002.1 机械冲击 GJB548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2005 振动疲劳 GJB 548B-2005

检测项：振动 检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2007 扫频振动 GJB 548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：恒温恒湿试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：微电子器件试验方法和程序 方法1010.1 温度循环 GJB 548B-2005

检测项：可焊性试验 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法2030:芯片粘接的超声波检测 GJB 548B-2005

检测项：X射线照像 检测样品：电子电气产品失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序 方法 2012.1：X射线照相 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省吴江市 更多相关信息>>

伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：外部目检 检测样品：电子元器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》 方法 2009.1 外部目检 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：盐 雾试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883E 1009.8

检测项：湿 热试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省焦作市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：漏极电流IDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：漏源通态电阻RDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：漏源通态电压VDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>