中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1004.1耐湿GJB548B-2005

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法2002.1机械冲击 GJB548B-2005

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：尺寸检验 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

检测项：互连电阻 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

检测项：镀覆孔电阻变化热循环 检测样品：气体成份 标准：1、《质谱分析方法通则》 GB/T6041-2002 2、《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005方法1018 3、《微电子器件试验方法标准》 MIL-STD-883H：2010 方法2018

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深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：外部检查 检测样品：电阻器、电容器、电位器及PCBA 失效分析 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005

检测项：电性能测试 检测样品：橡胶及有关制品 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005 5003 微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006

检测项：电性能测试 检测样品：橡胶及有关制品 标准：微电子器件试验方法和程序方法GJB 548 B-2005微电路的失效分析程序 微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：外部检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：内部检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：密封性检测 检测样品： 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：温度循环 检测样品： 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：Q值 检测样品：元器件筛选 标准：GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

台达电子电源（东莞）有限公司分析实验室

检测项：金相切片 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：显微镜观察 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：X射线检查 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

贵州振华群英电器有限公司试验检测中心

检测项：直流电阻测试 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005

检测项：接触电阻测试 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005

检测项：触点抖动监测 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：低温试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1

检测项：老炼试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1

检测项：温度冲击试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1010.1

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心

检测项：介质耐压 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1003

检测项：焊接性能试验 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1014

检测项：振动 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1004

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>