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检测项:触点的尺寸 检测样品:带触点的集成电路卡及其受理设备 标准:不测点压力
检测项:触点的数量和位置 检测样品:带触点的集成电路卡及其受理设备 标准:不测点压力
检测项:触点的分配 检测样品:带触点的集成电路卡及其受理设备 标准:不测点压力
机构所在地:北京市
机构所在地:上海市
检测项:全部参数 检测样品:硬质聚氯乙烯低发泡板材塞路卡法 标准:硬质聚氯乙烯低发泡板材塞路卡法 QB/T 2463.2-1999
机构所在地:北京市
检测项:电源电流ICC 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:电源电流ICC 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:辽宁省沈阳市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:江苏省南京市