中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入钳位电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输出高电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输出低电平电压 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

南京市产品质量监督检验院

检测项：部分参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《集成电路(IC)卡读写机通用规范》 GB/T 18239-2000

检测项：部分参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《串行击打式点阵打印机通用规范》 GB/T 9314-2011

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中检集团南方电子产品测试（深圳）有限公司

检测项：全项目 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：集成电路(IC)卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：全项目 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：集成电路(IC)卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：静放电敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：电源瞬态敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：辐射和传导敏感度 检测样品：集成电路（IC）卡读写机 标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

公安部第一研究所安全与警用电子产品质量检测中心

检测项：外观和结构检查 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：功能 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：电源 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

山东省计量科学研究院

检测项：全部参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：部分项目 检测样品：混合集成电路外壳 标准：半导体集成电路外壳总规范　 GJB1420A-1999

检测项： 检测样品： 标准：混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995

检测项：部分项目 检测样品：混合集成电路外壳 标准：混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

娄底市产商品质量监督检验所

检测项：全部参数 检测样品：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14619-1993

检测项：全部参数 检测样品：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-1993

检测项：全部参数 检测样品：微波集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：微波集成电路用氧化铝陶瓷基片 SJ/T 10243-1991

机构所在地：湖南省娄底市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出低电平电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>