西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：消耗电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管

检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

北京光华无线电厂检测试验中心

检测项：外部目检 检测样品：塑封半导体集成电路 标准：军用装备实验室环境试验方法 第23部分：倾斜和摇摆试验 GJB150.23A-2009

检测项：外部目检 检测样品：塑封半导体集成电路 标准：军用设备环境试验方法 倾斜和摇摆试验 GJB 150.23-1991

检测项：外部目检 检测样品：塑封半导体集成电路 标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

电信科学技术第一研究所泰峰通信实验室

检测项：安全性要求 检测样品：固定电话终端 标准：集成电路（IC）卡公用付费电话系统总技术要求 GB/T 19558-2004

检测项：话机适应性和寿命 检测样品：固定电话终端 标准：集成电路（IC）卡公用付费电话系统总技术要求 GB/T 19558-2004

检测项：话机的平均无故障时间不应小于10000h 检测样品：固定电话终端 标准：集成电路（IC）卡公用付费电话系统总技术要求 GB/T 19558-2004

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输出低电平电压 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输入电流 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：正向导通电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

检测项：发光强度 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

检测项：正向导通电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

国家信息技术安全研究中心信息安全特种技术检测实验室

检测项：系统审计保护级 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片安全技术要求（评估保证级4增强级）》

检测项：安全标记保护级 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片安全技术要求（评估保证级4增强级）》

检测项：结构化保护级 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片安全技术要求（评估保证级4增强级）》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

江苏中天科技股份有限公司检测中心

检测项：全部项目 检测样品：沿电力线路敷设的光缆 标准：IEC 60331-25-1999 电缆在着火条件下的试验--集成电路.第25部分:试验程序和要求--光缆.

机构所在地：江苏省南通市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：正向电压 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：正向电压 检测样品：耦合器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>