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检测项：集电极－发射极暗电流或集电极－基极暗电流（适用时） ICBO 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》
检测项：集电极－基极截止电流（反向电流）（ICBO） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》
检测项：发射极电流为零时的最高集电极－基极电压（VCBO） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：泄漏电流 检测样品： 标准：
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：基本电性能和电流谐波测量 检测样品：LED模块 标准：普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009
检测项：反向电流 检测样品：灯和灯系统 标准：灯和灯系统的光生物安全性 GB/T 20145-2006
机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>
检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994
检测项：集电极电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范
检测项：集电极电流 倍率 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范
检测项：集电极电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 《 阴极射线示波器通用规范 》
机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：漏电流 检测样品：电容器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB63B-2001 有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB733A-1996 非固体电解质钽电容器总规范GJB1312A-2001 有可靠性指标的片
检测项：集电极-基极截止电流Icbo 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 Ⅳ章 测试方法
检测项：漏电流 检测样品：DC/DC变换器 标准：混合集成电路 DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项：漏电流Id 检测样品：电感器 标准：GB/T16512-1996 电子设备用固定电感器总规范
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：集电极-基极电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项：集电极-发射极电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项：直流漏电流 检测样品：电容器 标准：有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB733A-1996 3.7
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
