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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:环境应力筛选试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB1032-90 电子产品环境应力筛选方法
检测项:冲击 试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T2423.3-2006 电子电工产品环境试验 第2部分:试验方法:试验Cab:恒定湿热试验
检测项:高温 试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:环境应力筛选 检测样品:电子、 电工产品 标准:《电子产品环境应力筛选方法》 GJB1032-1990
检测项:老炼试验 检测样品:元器件 筛选 标准:《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项:Q值 检测样品:元器件 筛选 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:环境应力筛选 检测样品:电子产品 标准:军用设备环境试验方法 温度—高度试验 GJB150.6-1986
检测项:外部目检 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项:密封 检测样品:集成电路 筛选 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:加速度试验 检测样品:军用设备、 电工、电子 产品 标准:电子产品环境应力筛选试验 GJB 1032-1990
检测项:高温试验 检测样品:军用设备、 电工、电子产品 标准:机载设备环境条件及试验方法(低温)试验 HB5830.9-1984
检测项:振动试验 检测样品:军用设备、 电工、电子 产品 标准:GJB 150.18A-2009 军用设备环境试验方法 第18部分:冲击试验
机构所在地:陕西省宝鸡市 更多相关信息>>
检测项:环境应力筛选 检测样品:电工电子产品 标准:GJB150.20A-2009 《军用装备实验室环境试验方法 炮击振动试验》
检测项:环境应力筛选 检测样品:电工电子产品 标准:GJB1032-1990 《电子产品环境应力筛选方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:电缆绝缘和护套材料 标准:第32部分:聚氯乙烯混合料专用试验方法-失重试验-热稳定性试验 GB/T2951.32-2008 IEC60811-3-2:1985+A1:1993+A2:2003 IEC 60811-409:2012 IEC 60811-405:2012
检测项:部分项目 检测样品:通信用光纤 标准:通信用单模光纤 GB/T9771.1~6-2008
检测项:部分项目 检测样品:通信光缆 标准:综合布线用室内光缆 GB/T13993.3-2001
检测项:电子产品环境应力筛选 检测样品:电工电子产品、 军用设备 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005
检测项:高温试验 检测样品:电工电子产品、 军用设备 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
检测项:湿热试验 检测样品:电工电子产品、 军用设备 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T 2423.2-2008
检测项:环境应力 筛选 检测样品:电工电子设备(电工电子、汽车、轨道交通、核电) 标准:《《救生设备试验》海安会决议》 MSC.81(70)
检测项:环境应力 筛选 检测样品:电工电子设备(电工电子、汽车、轨道交通、核电) 标准:《军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验》GJB150.5A-2009
检测项:环境应力 筛选 检测样品:电工电子设备(电工电子、汽车、轨道交通、核电) 标准:《岸电箱》CB*373-1985
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:高低温测试 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2筛选程序
检测项:高温贮存 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验;
检测项:温度循环 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环(空气-空气) 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验;
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:环境应力筛选试验 检测样品:机电 产品 标准:机载设备环境条件和试验方法4.0温度、高度 RTCA/DO-160E、F
检测项:环境应力筛选试验 检测样品:机电 产品 标准:电子产品环境应力筛选方法 GJB1032-1990
检测项:环境应力筛选试验 检测样品:机电 产品 标准:机载设备环境条件和试验方法 5.0温度变化 RTCA/DO-160E、F
机构所在地:天津市 更多相关信息>>