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检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
检测项:功能测试 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
检测项:输出高电平电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:粘连性 检测样品:塑料制品 标准:塑料薄膜及薄板的静态和动态摩擦系数的测试方法 ASTM D1894 - 11ε1
机构所在地:北京市
检测项:静态性能 检测样品:隔振器(减振器) 标准:振动与冲击隔离器性能测试方法 GB/T 15168-1994
检测项:轴功率 检测样品:隔振器(减振器) 标准:舰船轴功率测量方法GJB 2854-1997
检测项:轴功率 检测样品: 标准:舰船轴功率测量方法 GJB 2854-1997
机构所在地:上海市