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检测项:*全部参数 检测样品:茶叶加工机械 标准:DB35/T 892-2009茶叶烘焙机
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:电压比较器 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法2015.1
检测项:稳定性烘焙 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1008A
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:热老化 检测样品:粉末涂层 标准:测定烘焙过度对有机涂层的影响ASTM D2454-08
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件试验 标准:GJB 548B-2005 微电子器件试验
检测项:稳定性烘焙 检测样品:固定电阻器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:固定电容器 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
检测项:稳定性烘焙 检测样品:混合集成电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:面包 标准:面包 GB/T20981-2007
检测项:全部参数 检测样品:糕点、面包 标准:糕点、面包卫生标准 GB7099-2003