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棘突植入物

简介

棘突植入物

简介

棘突植入物产品描述：通常由单个或多个部件组成。一般采用钛合金等材料制成。该产品可用于在腰椎棘突间施加一定的撑开力，限制腰椎过度后伸。

棘突植入物预期用途：用于维持腰椎活动节段棘突间的稳定。

棘突植入物品名举例：棘突间植入物

棘突植入物管理类别：Ⅲ

棘突植入物相关指导原则：
1、3D打印人工椎体注册技术审查指导原则
2、增材制造金属植入物理化性能均一性研究指导原则

棘突植入物相关标准：
1、YY/T 1701-2020 用于增材制造的医用Ti-6Al-4V/Ti-6Al-4V ELI粉末
2、YY/T 0772.3-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第3部分：加速老化方法
3、YY/T 0772.4-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第4部分：氧化指数测试方法

收起百科↑ 最近更新：2023年04月03日

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辽宁省电子信息产品监督检验院（辽宁省信息安全与软件测评认证中心）/辽宁北方实验室有限公司

检测项：等电平远端串音检测样品：综合布线(光缆、电缆) 标准：GB 50312－2007综合布线工程验收规范

检测项：等电平远端串音功率和检测样品：电子计算机场地标准：GB/T 2887－2011 电子计算机场地通用规范GB 50174－2008电子信息系统机房设计规范

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福建省电子产品监督检验所（福建省软件评测中心）

检测项：线性输出电平检测样品：单面纸质印制标准：单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90

检测项：工作间、电信间、设备间的检查检测样品：综合布线系统标准：综合布线系统验收规范GB/T50312-2007 信息技术.用户建筑群的通用布缆ISO/IEC 11801-2002

检测项：指针回差、旋钮回差检测样品：收录音机标准：磁带录音机基本参数和技术条件 GB/T 2019-87 录音广播接收机基本参数 GB/T 9374-88

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上海市浦东新区计量质量检测所

检测项：等电平远端串音衰减检测样品：数字通信电缆标准：数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆 YD/T 1019-2001

检测项：等电平远端串音衰减功率和检测样品：数字通信电缆标准：数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆 YD/T 1019-2001

检测项：果糖和葡萄糖含量检测样品：酱油标准：蜂蜜中果糖、葡萄糖、蔗糖、麦芽糖含量的测定方法液相色谱示差折光检测法GB/T18932.22-2003

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出低电平电压检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入低电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：反向辐射电平检测样品：数字式搜索接收机标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平检测样品：功率放大器标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

检测项：输入电平适应性检测样品：干扰激励器标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

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检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：导通电阻路差ΔRon 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

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检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：反射电平检测样品：微波暗室标准：《微波暗室性能测试方法》GJB6780-2009

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

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北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

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中国计量科学研究院

检测项：静区反射率电平检测样品：微波天线暗室标准：GJB6780-2009微波暗室性能测试方法

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