北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：寿命试验 检测样品：电气电子产品 标准：《高温存储寿命》JESD22-A103C:2004

检测项：盐雾 （腐蚀） 检测样品：电气电子 产品 标准：《寿命试验》JESD22-A108C:2005

检测项：高温试验 检测样品：电气电子 产品 标准：《军用设备环境试验方法 高温试验》 GJB150.3-1986

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：高温寿命试验 检测样品：固定电感器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序GB/T8554-1998

检测项：高温寿命试验 检测样品：固定电容器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

检测项：高温寿命试验 检测样品：固定电容器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：高温寿命试验 检测样品：半导体分立器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：高温寿命（非工作） 检测样品：半导体分立器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：高温 检测样品：电子和电气产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 军用设备环境试验方法 高温试验 GJB 150.3A-2009 军用通信设备通用规范 A02高温试验 GJB 367A-2001

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：高温寿命试验 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：高温寿命（非工作） 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：老炼和寿命试验（功率场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：高温寿命试验 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：高温寿命（非工作） 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：高温寿命试验 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中讯邮电咨询设计院有限公司通信电源实验室

检测项：高温加速老化寿命 检测样品：通信用后备式锂离子电池组 标准：YDB 032—2009 通信用后备式锂离子电池组

检测项：高温加速老化寿命 检测样品：通信用后备式锂离子电池组 标准：YDB 032—2009 通信用后备式锂离子电池组

检测项：高温试验 检测样品： 标准：

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：电子元器件 标准：高温存储寿命 JESD22-A103D-2010

检测项：稳态 湿热 检测样品：电子元器件 标准：温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100C-2007

检测项：温度冲击 （气体介质） 检测样品：电子元器件 标准：稳态湿热偏置寿命试验EIA/JESD22-A101c-2009

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：高温寿命 检测样品：自整角机 标准：自整角机通用技术条件GB/T13138-2008

检测项：高温寿命 检测样品：自整角机 标准：自整角机通用技术条件 GB/T13138-2008

检测项：寿命 检测样品：永磁式直流力矩电动机 标准：永磁式直流力矩电动机通用技术条件GB/T10401-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：高温寿命 检测样品：二极管 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

检测项：高温贮存 检测样品：二极管 标准：有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988

检测项：温度冲击 检测样品：电容器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：高温存储试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：低温贮存寿命 JESD22-A119-2009

检测项：跌落试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命实验 GJB 360B-2009

检测项：跌落试验 检测样品：电子电气产品环境试验 标准：高温存储寿命 JESD22-A103D-2010

机构所在地：江苏省吴江市 更多相关信息>>